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文章概述：X 射线透射技术：适用于检测物体内部的结构和缺陷。
电子透射技术：用于观察和分析材料的微观结构。
中子透射技术：可用于研究材料的晶体结构和化学成分。
X 射线透射技术：适用于检测物体内部的结构和缺陷。
电子透射技术：用于观察和分析材料的微观结构。
中子透射技术：可用于研究材料的晶体结构和化学成分。
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