内容页头部

透红外晶体检测范围

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:透红外晶体检测主要应用于光学材料、电子材料、激光材料等领域,用于测试晶体的透过率、吸收系数、折射率等光学性能。常见的透红外晶体检测对象包括但不限于:锗(Ge)晶体:具有较高

透红外晶体检测主要应用于光学材料、电子材料、激光材料等领域,用于测试晶体的透过率、吸收系数、折射率等光学性能。

常见的透红外晶体检测对象包括但不限于:

锗(Ge)晶体:具有较高的透过率和折射率,广泛应用于红外光学系统中。

硅(Si)晶体:在中红外波段具有较好的透过率,常用于红外探测器和光学窗口。

碲镉汞(HgCdTe)晶体:是一种重要的红外探测器材料,具有高灵敏度和宽波段响应。

硫化锌(ZnS)晶体:在中红外波段具有较高的透过率和硬度,常用于红外窗口和光学元件。

氟化钙(CaF2)晶体:在中红外波段具有良好的透过率和低折射率,常用于光学窗口和透镜。

蓝宝石(Al2O3)晶体:具有高硬度和良好的光学性能,常用于红外窗口和光学元件。

硒化锌(ZnSe)晶体:在中红外波段具有较高的透过率和折射率,常用于红外光学系统中。

透红外晶体检测范围
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

全站搜索

中析研究所