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文章概述：X 射线荧光光谱仪：通过测量铜线样品中元素的特征 X 射线荧光强度，来确定铜线的成分和含量，从而计算出占空系数。
电子显微镜：可以观察铜线的微观结构和形貌，测量铜线的直径、截面
X 射线荧光光谱仪：通过测量铜线样品中元素的特征 X 射线荧光强度，来确定铜线的成分和含量，从而计算出占空系数。
电子显微镜：可以观察铜线的微观结构和形貌，测量铜线的直径、截面积等参数，进而计算出占空系数。
激光粒度分析仪：用于测量铜线颗粒的大小和分布，从而间接计算出占空系数。
密度计：通过测量铜线的密度，结合其他参数，可以计算出占空系数。
