透射衍射线检测是一种用于材料分析的技术，通过测量材料对 X 射线的衍射来获取其晶体结构和微观结构信息。

X 射线衍射图谱分析：确定材料的晶体结构、晶格参数和相组成。

晶体取向分析：研究材料中晶体的取向分布。

微观结构分析：检测材料中的缺陷、位错、晶界等微观结构特征。

物相定量分析：确定材料中各相的含量比例。

应力分析：测量材料中的残余应力。

织构分析：研究材料的织构特征。

相变分析：检测材料在加热或冷却过程中的相变行为。

晶体对称性分析：确定材料的晶体对称性。

晶格常数测量：精确测量材料的晶格常数。

晶粒尺寸测量：评估材料中晶粒的大小。

择优取向分析：研究材料中晶体的择优取向程度。

非晶态分析：检测非晶态材料的结构特征。

多晶材料分析：分析多晶材料的微观结构和性能。

薄膜材料分析：研究薄膜材料的晶体结构和厚度。

纳米材料分析：检测纳米材料的晶体结构和尺寸。

复合材料分析：分析复合材料中各组分的分布和相互作用。

陶瓷材料分析：研究陶瓷材料的晶体结构和性能。

金属材料分析：检测金属材料的晶体结构和微观结构。

聚合物材料分析：分析聚合物材料的结晶度和取向。

半导体材料分析：研究半导体材料的晶体结构和电学性能。

地质材料分析：分析地质材料的矿物组成和结构。

生物材料分析：检测生物材料的晶体结构和生物学性能。

材料老化分析：研究材料在使用过程中的结构变化和性能衰减。

材料合成分析：评估材料合成过程中的晶体结构演变。

材料质量控制：确保材料的晶体结构和性能符合要求。

科学研究：用于材料科学、物理学、化学等领域的研究。

工业应用：在材料制造、加工和质量检测等方面有广泛应用。