检测项目

铍（Be）含量测定：采用ICP-OES法，检测范围15.5%-16.5%（w/w）

钾（K）含量测定：火焰原子吸收光谱法（FAAS），精度±0.3%（w/w）

硫酸根（SO₄²⁻）浓度分析：离子色谱法（IC），检出限0.05mg/L

重金属杂质总量：铅（Pb）、镉（Cd）、汞（Hg）总和≤10ppm

水分含量测定：卡尔费休库仑法，控制标准≤0.5%（w/w）

晶体结构表征：X射线衍射（XRD）分析晶型纯度≥98%

粒度分布测试：激光衍射法D50值10-50μm

检测范围

电子陶瓷基板用高纯硫酸铍钾原料

有机合成催化剂前驱体材料

核工业用特种化学试剂

高温合金表面处理剂

实验室基准物质标定样品

光电子器件镀膜材料

检测方法

ASTM E1479-16《电感耦合等离子体原子发射光谱法测定金属元素》

ISO 9280:2021《水质-硫酸盐的测定-离子色谱法》

GB/T 223.5-2008《钢铁及合金化学分析方法 还原型硅钼酸盐光度法测定酸溶硅含量》

GB/T 6283-2008《化工产品中水分含量的测定 卡尔·费休法》

ISO 13320:2020《粒度分析-激光衍射法》

GB/T 23942-2009《化学试剂 电感耦合等离子体原子发射光谱法通则》

检测设备

PerkinElmer Optima 8300电感耦合等离子体发射光谱仪：多元素同步定量分析

Thermo Scientific Dionex ICS-6000离子色谱系统：阴离子分离与定量

METTLER TOLEDO C30S卡尔费休水分仪：微量水分精确测定

Malvern Mastersizer 3000激光粒度分析仪：纳米至毫米级颗粒表征

Rigaku SmartLab X射线衍射仪：晶体结构分析与物相鉴定

Agilent 240Z石墨炉原子吸收光谱仪：痕量重金属元素检测

Sartorius CPA225D电子分析天平：万分之一精度称量系统

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。