检测项目

1.密度检测：测量范围1.6-2.2g/cm（阿基米德法），精度0.01g/cm

2.抗压强度测试：加载速率0.5-5mm/min（室温至1600℃），最大载荷500kN

3.热导率测定：温度范围25-2000℃，测量精度3%（激光闪射法）

4.灰分含量分析：高温灼烧法（850℃25℃），残渣量≤0.5%

5.电阻率测试：四探针法（10-1000μΩm），电压分辨率0.1μV

6.孔隙率测定：压汞法（孔径0.003-360μm），孔隙率≤15%

7.各向异性系数：X射线衍射法（002晶面取向度≥1.05）

检测范围

1.核反应堆用核级石墨块（硼当量≤5ppm）

2.单晶硅生长炉用高纯石墨块（灰分≤50ppm）

3.金属连铸结晶器用等静压石墨块（密度≥1.85g/cm）

4.电解铝用阳极石墨块（电阻率≤35μΩm）

5.化工设备密封用浸渍石墨块（抗弯强度≥40MPa）

6.航天器热防护系统用细颗粒石墨块（热膨胀系数≤410⁻⁶/℃）

检测方法

ASTMC559：碳和石墨材料密度测定标准方法

ISO18515：碳质材料抗压强度测试规范

GB/T3074.1：石墨电极抗折强度测定方法

ASTME1461：闪光法测定热扩散系数标准

GB/T3521：石墨化学分析方法通则

ISO10119：碳纤维增强塑料孔隙率测定

GB/T24525：炭素材料电阻率测定方法

检测设备

1.Instron5985电子万能试验机：配备高温炉体（1600℃），可进行多轴力学性能测试

2.NetzschLFA467HyperFlash激光导热仪：支持真空/惰性气氛下热物性分析

3.MicromeriticsAutoPoreV9600压汞仪：孔径分析分辨率达3nm

4.RigakuSmartLabX射线衍射仪：配备高温附件（-190-3000℃）的晶体结构分析系统

5.LecoTGA701热重分析仪：最高温度1200℃，称量精度0.1μg

6.Agilent720ES电感耦合等离子体光谱仪：可检测50余种元素（检出限ppb级）

7.MitutoyoLH-600三坐标测量机：空间测量精度1.5μm/m

8.KeysightB2902A精密源表：电阻率测量分辨率达0.01nV/0.1fA

9.BrukerQ4TASMAN波长色散X荧光光谱仪：元素分析范围Be-U

10.CarlZeissAxioImager.A2m金相显微镜：配备EBSD系统的微观结构分析平台

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。