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发射光谱谱线检测

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:发射光谱谱线检测是通过物质受激发后产生的特征光谱进行定性与定量分析的技术,广泛应用于材料科学、环境监测及工业质量控制等领域。核心检测要点包括谱线分辨率、波长校准精度、检出限控制及干扰校正能力。需严格遵循国际标准方法并匹配高精度设备以确保数据可靠性。

检测项目

1.元素定性分析:波长范围200-900nm,检出限≤0.1ppm

2.痕量元素定量:动态线性范围10-6-102%,RSD≤2%

3.基体效应校正:采用内标法(Sc/Y内标)或标准加入法

4.谱线干扰评估:半峰宽≤0.02nm,信噪比≥100:1

5.等离子体稳定性测试:炬管温度8000-10000K,波动率<1.5%

6.仪器检出限验证:依据IUPAC定义(3σ准则)执行

检测范围

1.金属及合金材料:包括钢铁、铝合金、钛合金等黑色/有色金属制品

2.环境样品:土壤沉积物(EPA6010C)、水质(HJ776-2015)等介质

3.电子材料:半导体晶圆(Si/Ge基材)、溅射靶材纯度验证

4.地质矿物:岩石样品主量元素(SiO2,Al2O3等)测定

5.生物医学样本:血液/组织中重金属元素(Pb,Cd,As)筛查

检测方法

1.ASTME1257-16:电感耦合等离子体原子发射光谱法通则

2.ISO11885:2007:水质-ICP-OES测定62种元素

3.GB/T223.3-2022:钢铁及合金中碳硫含量的测定

4.JISK0116:2014:通用发射光谱分析方法规范

5.GB/T20975.25-2020:铝及铝合金化学分析方法-ICP-OES法

检测设备

1.ThermoFisheriCAP7600ICP-OES:轴向观测系统,波长范围165-1100nm

2.PerkinElmerOptima8300:双单色器设计,分辨率≤0.006nm@200nm

3.Agilent5110VDVICP-OES:垂直炬管技术,氩气消耗量≤12L/min

4.ShimadzuICPE-9820:三维光学系统配置CCD检测器

5.GBCOptimass9500TOF-ICP-MS:飞行时间质谱联用系统

6.HitachiPS3520UV-DD:真空紫外通道扩展至120nm波段

7.SpectroARCOSII:40MHz高频发生器功率稳定性0.1%

8.HoribaUltimaExpert:焦距750mmCzerny-Turner光栅结构

9.SkyrayInstrumentPlasma2000:国产全谱直读型ICP光谱仪

10.BrukerAuroraM90ICP-MS/MS:三重四极杆质谱联用系统

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

发射光谱谱线检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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