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反置双聚焦质谱计检测

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:反置双聚焦质谱计是一种高分辨率、高灵敏度的分析仪器,广泛应用于材料科学、环境监测及生物医药领域。其核心检测能力包括精确质量测定、同位素比值分析和痕量成分定量。本文重点阐述该技术的检测项目参数、适用材料类型、标准化方法及关键设备配置,为专业实验室提供技术参考。

检测项目

1.元素成分分析:质量范围1-300amu,相对标准偏差≤0.005%

2.同位素比值测定:丰度灵敏度≥110-6,质量分辨率>10,000

3.痕量杂质检测:检出限≤0.1ppb(As,Hg,Cd,Pb等重金属)

4.分子结构解析:质量精度<2ppm(MS/MS模式)

5.表面污染物分析:深度分辨率5nm(配合离子溅射源)

检测范围

1.半导体材料:高纯硅片(纯度≥99.9999%)、GaN外延层组分分析

2.环境样品:土壤重金属形态分析(Cr6+/Cr3+)、大气PM2.5成分溯源

3.生物医药:蛋白质分子量测定(范围5-200kDa)、药物代谢产物鉴定

4.核工业材料:铀同位素丰度比(235U/238U)、核燃料包壳杂质分析

5.地质样品:锆石U-Pb定年(年龄误差1Ma)、稀土元素配分模式

检测方法

1.ASTME1504-22《高纯金属中痕量元素的质谱分析方法》

2.ISO15366-1:2023《核燃料循环材料中铀同位素分析的化学分离与质谱法》

3.GB/T32465-2016《半导体材料中杂质元素的辉光放电质谱法》

4.ISO17294-2:2022《水质-电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)应用指南》

5.GB/T40111-2021《大气细颗粒物中无机元素的测定电感耦合等离子体质谱法》

检测设备

1.ThermoFisherNeomaMC-ICP-MS:多接收器系统(ε=10-12A),同位素比值精度0.002%RSD

2.Agilent8900TripleQuadrupoleLC-MS/MS:质量轴稳定性0.1amu/24h,扫描速度20,000amu/s

3.NuInstrumentsSapphireTOF-ICP-MS:时间飞行质量分析器(质量范围1-270amu),瞬时采集速率1GHz

4.ShimadzuICPMS-2030:碰撞反应池技术(He/H2/O2模式),检出限<0.1ppt(In)

5.PerkinElmerNexION350D:三锥接口设计(采样深度可调0-15mm),耐高基体能力>25%TDS

6.BrukertimsTOFPro2:捕获离子迁移谱(CCS值精度<0.5%),4D蛋白质组学分析

7.JEOLJMS-T2000GCAccuTOFGC-Alpha:EI/CI双电离源(质量范围10-20,000Da),GC联用保留时间偏差<0.05min

8.WatersXevoTQ-XS:StepWaveXS离子导向技术(信噪比提升10倍),MRM通道数>3000个/次

9.SCIEXTripleTOF6600+:SWATH全息采集模式(窗口宽度5Da),数据采集速度100Hz

10.AnalytikJenaPlasmaQuantMSElite:四极杆质量过滤器(带宽0.3-3amu可调),动态线性范围12个数量级

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

反置双聚焦质谱计检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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