检测项目

1. 波长精度：测量激光器输出波长偏差范围（±0.02nm），采用光谱分析仪校准。

2. 频率差稳定性：连续监测30分钟内差频波动值（≤1MHz），记录标准差。

3. 光束准直度：评估光束发散角（＜0.5mrad），使用CCD成像系统量化分析。

4. 信噪比（SNR）：在1GHz带宽下测试信号与噪声功率比（≥60dB）。

5. 相位噪声：测量10kHz偏移处相位噪声谱密度（＜-100dBc/Hz）。

检测范围

1. 光学薄膜元件：包括增透膜、分光膜等镀层材料的反射/透射特性分析。

2. 半导体激光器：GaAs、InP基激光芯片的频率调制响应测试。

3. 光纤传感系统：分布式光纤振动传感器的干涉信号解调能力验证。

4. 精密机械部件：纳米级位移平台的动态响应特性标定。

5. 量子光学器件：单光子探测器的时序同步精度评估。

检测方法

1. ASTM E387-04：基于迈克尔逊干涉法的光谱分辨率测试规程。

2. ISO 11146-1:2021：激光束宽度与发散角的标准化测量方法。

3. GB/T 15305-2017：光学元件表面波前畸变的干涉测量技术要求。

4. IEC 60825-1:2014：激光产品辐射安全等级分类与测试规范。

5. GB/T 31359-2015：半导体激光器光电特性参数测试通则。

检测设备

1. Keysight N7744A多通道光功率计：支持1200-1650nm波段，动态范围80dB。

2. Newport 1835-R光强分布分析仪：CCD分辨率1920×1200，采样率60fps。

3. Agilent 81606B可调谐激光源：波长范围1460-1640nm，线宽＜100kHz。

4. Thorlabs SA210-5B扫描式法布里-珀罗干涉仪：自由光谱范围1.5GHz，精细度＞200。

5. R&S FSW67信号与频谱分析仪：频率范围至67GHz，相位噪声基底-175dBc/Hz。

6. Ophir PD300-IR光电探测器：响应带宽12GHz，NEP＜10pW/√Hz。

7. Zygo Verifire MST干涉仪：波前测量精度λ/100 PV值（λ=632.8nm）。

8. EXFO FTB-5240S偏振分析仪：支持PMD/CD联合测试，精度±0.005ps。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。