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文章概述：粒度研究检测是材料科学与工业质量控制的核心环节，通过精确分析颗粒尺寸分布及物理特性数据，为产品性能优化提供依据。关键检测参数包括粒径范围、比表面积及形态特征等，适用于金属粉末、陶瓷原料、制药颗粒等多领域。本文系统阐述检测项目、方法标准及设备选型要点。
检测项目
1. 粒度分布测定：D10/D50/D90值、跨度系数（Span）、分布宽度指数（PDI）
2. 平均粒径计算：体积平均径（D[4,3]）、数量平均径（D[3,2]）、Zeta电位关联粒径
3. 比表面积测试：BET多点法测定（0.001-1000 m²/g），孔隙率关联分析
4. 形态学表征：圆形度（0-1标度）、长径比（AR）、表面粗糙度（Ra值）
5. 密度测试：振实密度（≥3次测量）、真密度（氦气置换法）、堆积角测定
检测范围
1. 金属粉末材料：钛合金粉（10-150μm）、3D打印用不锈钢粉（15-45μm）
2. 陶瓷原料：氧化铝研磨体（0.1-5mm）、碳化硅微粉（0.5-20μm）
3. 制药颗粒：API原料药（1-200μm）、片剂崩解颗粒（50-500μm）
4. 化工催化剂：分子筛载体（2-8nm孔径）、贵金属负载颗粒（10-100nm）
5. 环境颗粒物：PM2.5/PM10分级采样物、工业粉尘（TSP）
检测方法
ASTM B822-20 金属粉末粒度分布的激光衍射测定
ISO 13320:2020 粒度分析-激光衍射法通用要求
GB/T 19077-2016 粒度分布-激光衍射法
ISO 9277:2010 BET法比表面积测定
GB/T 5162-2021 金属粉末振实密度测试
ASTM E2578-18 颗粒形态学图像分析法
检测设备
1. 马尔文 Mastersizer 3000：激光衍射系统（0.01-3500μm），配备Hydro MV湿法分散单元
2. 贝克曼库尔特 LS 13 320：超声干湿法两用系统（0.04-2000μm），具备PIDS偏振强度差示技术
3. 麦克仪器 TriStar II Plus：全自动BET比表面分析仪（0.0005-无上限m²/g）
4. FEI Helios G4 UX：场发射扫描电镜（1nm分辨率），配备ETD二次电子探测器
5. 布鲁克 Dimension Icon：原子力显微镜（0.1nm纵向分辨率），PeakForce Tapping模式
6. Quantachrome Ultrapyc 5000：全自动气体置换真密度仪（精度±0.03%）
7. Retsch Camsizer X2：动态图像分析系统（1μm-30mm），双摄像头高速采集
8. Micromeritics GeoPyc 1365：包裹式振实密度仪（重复性±0.3%）
9. Sympatec HELOS/RODOS：干法分散激光衍射系统（0.1-8750μm）
10. Horiba LA-960V2：全自动湿干法两用系统（10nm-5mm），集成超声分散模块
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
