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晶振检测

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:晶振检测是评估晶体振荡器性能的关键技术环节,涵盖频率精度、温度稳定性、老化率等核心参数。专业检测需依据国际标准(如IEC60679)及国家标准(如GB/T12273),通过精密仪器对谐振阻抗、负载电容等指标进行量化分析。本文系统阐述检测项目、方法及设备选型要点,为电子元器件质量控制提供技术参考。

检测项目

1.标称频率测量:0.1ppm分辨率,测试范围1MHz-200MHz

2.频率温度特性:-40℃~+85℃温箱内测试频率偏移量(10ppm~50ppm)

3.老化率测试:1000小时连续工作后频率变化率(≤3ppm/年)

4.谐振阻抗分析:50Ω~500Ω范围测量(网络分析仪法)

5.负载电容匹配:12pF~32pF可调测试(CL误差≤5%)

检测范围

1.石英晶体谐振器(DIP/SMD封装)

2.温补晶振(TCXO)与压控晶振(VCXO)

3.恒温晶振(OCXO)与数字补偿晶振(DCXO)

4.MEMS硅基振荡器与陶瓷谐振器

5.航天级/车规级高可靠性晶振(AEC-Q200认证)

检测方法

1.IEC60679-1:2017压电滤波器通用规范

2.GB/T12273-2017石英晶体元件参数测量方法

3.MIL-PRF-55310D军品级晶体振荡器测试规范

4.JISC6701:2019晶体元件通用基准

5.ASTMF1800-19电子元件加速寿命试验标准

检测设备

1.Keysight53132A频率计数器(分辨率0.001Hz)

2.Rohde&SchwarzFSPN相位噪声分析仪(-170dBc/Hz灵敏度)

3.ThermotronSM-32C温控试验箱(-70℃~+180℃)

4.AgilentE5061B网络分析仪(100kHz至3GHz)

5.TektronixMDO3104混合域示波器(1GHz带宽)

6.Chroma3360P电源负载一体机(0-30V/0-20A)

7.ESPECSH-642振动试验台(5Hz~2000Hz)

8.HiokiIM3536LCR测试仪(4Hz~8MHz)

9.AnritsuMG3642A信号发生器(10MHz-20GHz)

10.Fluke8588A参考级万用表(8.5位分辨率)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

晶振检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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