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文章概述：高纯硼粉作为特种材料广泛应用于核工业、电子器件及复合材料领域，其品质直接影响终端产品性能。专业检测需涵盖纯度分析、粒度分布、杂质含量等核心指标，采用国际标准化方法确保数据可靠性。本文系统阐述高纯硼粉的关键检测项目、适用材料范围及标准化操作流程。
检测项目
1. 纯度分析：总硼含量≥99.9%，非金属杂质总量≤0.1%
2. 粒度分布：D10≤0.8μm，D50=1-10μm（可调范围），D90≤25μm
3. 氧含量测定：≤500ppm（惰性气体保护样品）
4. 金属杂质检测：Fe≤50ppm，Al≤30ppm，Si≤20ppm
5. 比表面积测试：0.5-5.0m²/g（BET法）
检测范围
1. 核工业用中子吸收材料（B4C复合粉末）
2. 电子级溅射靶材（纯度≥99.99%）
3. 高温陶瓷烧结添加剂（粒径≤5μm）
4. 金属合金强化相粉末（Fe-B合金前驱体）
5. 催化剂载体材料（介孔硼基复合材料）
检测方法
1. 纯度分析：ASTM E2857-19《ICP-OES法测定硼基材料》
2. 粒度测定：ISO 13320:2020《激光衍射法粒度分析》
3. 氧含量测试：GB/T 223.82-2023《惰性熔融红外吸收法》
4. 金属杂质检测：GB/T 20975.25-2020《原子吸收光谱法》
5. 比表面积测定：ISO 9277:2010《BET氮吸附法》
检测设备
1. Thermo Scientific iCAP 7400 ICP-OES：元素定量分析
2. Malvern Mastersizer 3000：激光粒度分布测试
3. LECO ONH836：氧氮氢联测系统
4. Micromeritics ASAP 2460：比表面及孔隙度分析仪
5. PerkinElmer PinAAcle 900T：原子吸收光谱仪
6. Hitachi SU5000场发射电镜：微观形貌观测
7. Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪：物相结构分析
8. Mettler Toledo TGA/DSC3+：热重-差热联用仪
9. Agilent 8900 ICP-MS/MS：痕量元素检测
10. Horiba LA-960V2：动态光散射粒度仪
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
