检测项目

1. 线性尺寸测量：包含长度/宽度/高度测量（公差范围±0.01mm~±1.5mm）

2. 直径公差检测：涵盖轴类/孔类部件（Φ0.5mm~Φ500mm）

3. 厚度均匀性分析：片材类产品（0.05mm~50mm）

4. 平面度验证：基准面平整度（≤0.005mm/m²）

5. 圆度误差测定：回转体部件（IT6~IT8级精度）

检测范围

1. 金属加工件：铝合金压铸件/不锈钢精密零件/钛合金结构件

2. 工程塑料制品：PEEK轴承/尼龙齿轮/ABS外壳

3. 陶瓷基材：氧化铝基板/碳化硅密封环/氮化硅轴承球

4. 电子元器件：PCB板/芯片封装体/连接器端子

5. 复合材料构件：碳纤维层压板/玻璃钢管道/陶瓷基复合材料

检测方法

1. ASTM E177-20《尺寸测量方法标准指南》

2. ISO 1101:2017《几何公差规范》

3. GB/T 3177-2009《产品几何技术规范(GPS)光滑工件尺寸的检验》

4. ISO 2768-1:1989《一般公差第1部分：线性尺寸和角度尺寸的公差》

5. GB/T 1804-2000《一般公差未注公差的线性和角度尺寸的公差》

检测设备

1. Mitutoyo CRYSTA-Apex S系列三坐标测量机（三维尺寸测量）

2. Keyence IM-8000系列影像测量仪（二维轮廓分析）

3. Zeiss O-INSPECT 543复合式测量系统（多传感器集成）

4. Starrett 798A-12/24精密数显卡尺（接触式线性测量）

5. Olympus LEXT OLS5000激光共聚焦显微镜（微米级厚度检测）

6. Hexagon Absolute Arm 7轴便携测量臂（现场大尺寸测量）

7. Mahr Federal Millimar C1216电感测微仪（高精度直径测定）

8. Taylor Hobson Talyrond 585圆度仪（纳米级圆度分析）

9. Nikon NEXIV VMZ-S656T视频测量系统（非接触式轮廓扫描）

10. Fowler Sylus Supreme电子高度规（平面度快速检测）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。