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光纤终端组件检测

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:光纤终端组件检测是确保光通信系统可靠性的关键环节,主要针对光学性能、机械特性及环境适应性进行综合评估。核心检测项目包括插入损耗、回波损耗、端面几何参数、抗拉强度及温度循环测试,需严格遵循ISO/IEC、GB/T等标准规范。本文从技术指标、适用材料、方法体系及设备选型四方面系统阐述检测要点。

检测项目

插入损耗:≤0.3dB@1310/1550nm波长

回波损耗:≥40dB(PC型),≥55dB(APC型)

端面曲率半径:10-25mm(球面研磨)

光纤高度差:≤50nm(3D干涉仪测量)

抗拉强度:≥100N(轴向静态拉力)

检测范围

陶瓷插芯光纤连接器(LC/SC/FC/ST)

MT系列多芯阵列连接器

光纤适配器(单模/多模/混合型)

预埋式现场组装跳线

光纤分路器终端组件

检测方法

插入损耗测试:ISO/IEC 61300-3-34(基准法),GB/T 18311.3(替代法)

端面几何分析:IEC 61300-3-35(干涉仪法),ASTM E1951-14(白光干涉)

环境试验:GB/T 2423.22(温度循环),YD/T 2157-2017(湿热试验)

机械耐久性:IEC 61300-2-4(插拔寿命),GB/T 12507.2(扭转试验)

材料特性检测:GB/T 9771(光纤几何参数),ASTM D792(密度测定)

检测设备

光时域反射仪EXFO FTB-200:动态范围45dB@1550nm

插回损测试仪VIAVI MTS-8000:波长范围1260-1650nm

三维干涉仪Norland AC3000:分辨率0.1μm

光纤拉力试验机SINTECH STM-20:量程0-200N

高低温交变箱ESPEC TSE-11-A:温控范围-40℃~150℃

端面检测显微镜Olympus MX63:500倍数字成像

光谱分析仪YOKOGAWA AQ6370D:波长精度±0.01nm

偏振相关损耗测试系统Agilent N7788B:PDL测量精度±0.02dB

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

光纤终端组件检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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