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粒度分析器检测

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:粒度分析器检测是通过精密仪器对颗粒物料的粒径分布、形态等参数进行定量分析的技术手段,广泛应用于材料科学、化工、制药等领域。核心检测指标包括D10/D50/D90值、比表面积及粒径均匀性等,需严格遵循ASTM、ISO及GB/T标准方法,确保数据准确性和重复性。

检测项目

1. 粒径分布:测量颗粒在0.1μm-3500μm范围内的体积/数量占比

2. D10/D50/D90值:分别表征累积分布10%、50%、90%对应的临界粒径

3. 比表面积:采用BET法测定颗粒总表面积与质量比值(m²/g)

4. 球形度:通过图像分析法计算颗粒投影轮廓与理想圆形的接近程度(0-1标度)

5. 分散稳定性:评估悬浮液中颗粒Zeta电位(±100mV范围)及团聚趋势

检测范围

1. 金属粉末:钛合金粉、3D打印用不锈钢粉(粒径1-100μm)

2. 制药原料:微晶纤维素、API活性成分(亚微米级至200μm)

3. 陶瓷粉体:氧化铝、碳化硅研磨介质(纳米级至毫米级)

4. 环境样品:大气PM2.5/PM10颗粒物、土壤沉积物

5. 食品添加剂:乳糖微粉、乳化剂纳米乳液(10nm-500nm)

检测方法

1. 激光衍射法:依据ISO 13320:2020《粒度分析-激光衍射法》

2. 动态光散射:执行GB/T 29022-2012《纳米颗粒粒度分布测定》

3. 筛分法:参照ASTM B214-16《金属粉末筛分粒度测定》

4. 图像分析法:采用ISO 13322-2:2021《静态图像分析法》

5. 电声法:依据GB/T 32651-2016《纳米粉体zeta电位测试》

检测设备

1. Mastersizer 3000(马尔文帕纳科):激光衍射仪,量程0.01-3500μm

2. Nanotrac Wave II(麦奇克):动态光散射仪,支持0.3nm-10μm测量

3. CAMSIZER X2(麦奇克):动态图像分析仪,可测20μm-30mm颗粒

4. LS 13 320(贝克曼库尔特):湿法/干法两用激光粒度仪

5. SA-PLUS(大昌华嘉):光子相关光谱仪(PCS),专攻纳米颗粒

6. BT-9300ST(丹东百特):全自动激光粒度分析系统

7. Partica LA-960V2(堀场):广角激光散射装置(0.01nm-5000μm)

8. Morphologi 4(马尔文帕纳科):全自动静态图像分析系统

9. Zetasizer Ultra(马尔文帕纳科):纳米颗粒Zeta电位及分子量测定

10. ANALYSETTE 28(FRITSCH):图像筛分与动态图像联用系统

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

粒度分析器检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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