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差频计检测

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:差频计检测是评估电子设备频率稳定性和信号质量的关键技术手段,主要针对振荡器、滤波器及射频器件的频率偏差、相位噪声等核心参数进行量化分析。检测过程需遵循ASTM、ISO及GB/T系列标准规范,通过高精度频谱分析仪和信号发生器实现多维度性能验证。

检测项目

1. 频率稳定性测试:测量±0.1 ppm至±50 ppm范围内的长期/短期频率偏移

2. 相位噪声分析:评估10 Hz至1 MHz偏移量下的噪声谱密度(-120 dBc/Hz至-80 dBc/Hz)

3. 谐波失真检测:量化基波与2-5次谐波的幅度比(THD≤0.5%)

4. 温度漂移特性:验证-40℃至+85℃温变条件下的频率变化率(≤±2 ppm/℃)

5. 电源抑制比测试:测量供电电压波动±10%时的频率稳定度(PSRR≥60 dB)

检测范围

1. 石英晶体振荡器(XO/TCXO/OCXO)的频率输出特性验证

2. 射频前端模块的本振信号质量评估

3. 通信基站滤波器的带内波动与带外抑制比测试

4. 卫星导航接收机的本地振荡器相位噪声特性

5. 工业控制设备时钟电路的电磁兼容性验证

检测方法

ASTM F1800-18《高频电子元件频率稳定性测试规程》

ISO 18945:2018《电子元器件相位噪声测量方法》

GB/T 11461-2020《晶体振荡器通用规范》

GB/T 26256-2017《射频信号发生器技术要求与测试方法》

IEC 62047-21:2015《半导体器件微机电系统谐振器测试标准》

检测设备

1. Keysight N9020B MXA频谱分析仪:支持26.5 GHz带宽及1 Hz分辨率带宽

2. Rohde & Schwarz FSW85信号分析仪:具备85 GHz超宽频段相位噪声测量功能

3. Anritsu MG3710E矢量信号发生器:输出频率覆盖9 kHz~20 GHz

4. Stanford Research Systems FS725铷原子频率标准:提供10 MHz基准时钟(稳定度5e-11/day)

5. Agilent 53132A通用计数器:12位/s采样率的时间间隔测量精度

6. B&K Precision 891 LCR测试仪:阻抗测量范围1 mΩ~100 MΩ

7. Fluke 8588A参考级万用表:8.5位分辨率直流参数测量

8. Tektronix MDO3104混合域示波器:1 GHz带宽时域/频域同步分析

9. Chroma 19032电源扰动模拟器:输出纹波噪声≤10 mVrms

10. Espec PL-3KFP温控试验箱:温度变化速率15℃/min

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

差频计检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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