检测项目

1. 散射角精度测量：角度分辨率≤0.1°，测量范围10°-150°

2. 能量分辨率分析：探测器能量分辨率≤1.5%@662keV

3. 线性衰减系数测定：误差范围±0.5cm²/g

4. 电子密度计算：相对偏差≤0.3%

5. 能谱峰位稳定性：8小时漂移≤0.05%

检测范围

1. 金属合金材料：钛合金/铝合金/高温合金的电子密度测定

2. 半导体材料：硅晶圆/砷化镓的缺陷分析

3. 医疗防护材料：铅橡胶/钨聚合物屏蔽效能评估

4. 核燃料元件：铀钚混合氧化物的密度均匀性检测

5. 考古样品：非破坏性文物元素成分分析

检测方法

1. ASTM E1441-19：康普顿散射法测定材料电子密度标准规程

2. ISO 21484:2017：核燃料中氧/金属比测定方法

3. GB/T 12162.3-2021：X射线参考辐射场特性与校准规范

4. ASTM E1819-15：康普顿能谱法测定材料元素组成

5. GB 5172-2020：辐射防护仪器校准与测试方法

检测设备

1. ORTEC GEM60P4-HPGe：高纯锗探测器（能量分辨率≤0.9keV）

2. CANBERRA DSA2000：数字化多道分析系统（4096道ADC）

3. AMETEK XR-100T-CdTe：碲锌镉半导体探测器（<200μm空间分辨率）

4. Varex XRD4343CT：微焦点X射线源（160kV/3mA）

5. Shimadzu XRD-7000：广角测角仪（角度重复性±0.001°）

6. Bruker D8 ADVANCE：三维散射测量系统（θ-2θ联动精度±0.002°）

7. Thermo Scientific ARL EQUINOX 3000：能量色散X射线衍射仪

8. HAMAMATSU C10900D：光子计数型探测器（计数率≥10⁶cps）

9. RIGAKU NEX CG系列：二维面探式康普顿成像系统

10. AGILENT 5500LS：低温恒温器系统（工作温度4K-300K）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。