检测项目

1.直流电阻：测量范围0.1μΩ-100MΩ，精度0.05%+2字2.电阻温度系数：测试温度范围-70℃~300℃，精度0.5ppm/℃3.绝缘电阻：测试电压DC500V-1000V，量程1GΩ-10TΩ4.导体均匀性：扫描间距0.1mm-10mm可调，分辨率0.01%5.接触电阻：四端子法测量，量程0.01mΩ-10Ω

检测范围

1.铜/铝导线：电力电缆、漆包线等线径0.05mm-50mm导体2.合金材料：康铜、锰铜等精密电阻合金带材3.半导体材料：硅晶圆、碳化硅基板等半导体基材4.特种电缆：同轴电缆、超导电缆等复合导体结构5.电子元件：贴片电阻、熔断器等微型导电部件

检测方法

1.GB/T3048.3-2007：电线电缆电性能试验方法-导体直流电阻2.ASTMB193-20：导电材料电阻率测试标准3.IEC60468:1974：金属材料电阻率测量方法4.GB/T351-2019：金属材料电阻温度系数测定规程5.ISO2178:2016：非磁性金属基体镀层厚度测量-磁性法

检测设备

1.Keysight34461A数字万用表：6位分辨率，基本DCV精度0.0035%2.HIOKIRM3545电阻计：0.01μΩ分辨率，最大30A测试电流3.Chroma11020高阻计：10TΩ量程，测试电压DC1000V4.TemptronicTP04300温控系统：-70℃~300℃快速温变测试平台5.OLYMPUSDSX1000数码显微镜：20nm分辨率导体表面形貌分析6.Agilent4294A阻抗分析仪：40Hz-110MHz频率扫描测试7.Keithley2450源表：四线法接触电阻测量系统8.FLUKE1587绝缘测试仪：CATIV1000V安全等级绝缘检测9.ZEM-3热电分析仪：塞贝克系数与电阻率同步测量装置10.BRUKERD8ADVANCEXRD：晶体结构对导电性能影响分析系统

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。