检测项目

1.化学成分分析：BeC₂含量≥99.2%，杂质元素（Fe≤0.05%、Si≤0.03%、Al≤0.02%）2.晶型结构分析：α相占比≥95%，β相占比≤5%（XRD半定量）3.粒度分布：D50=3-5μm（激光衍射法），D90≤8μm4.密度测定：理论密度≥2.36g/cm（氦气置换法）5.氧含量测定：总氧≤0.15wt%（惰性熔融红外法）6.比表面积：0.8-1.2m/g（BET氮吸附法）7.热稳定性测试：1600℃/4h质量损失≤0.3%

检测范围

1.核工业用碳化铍陶瓷部件（中子反射层/慢化剂）2.半导体器件散热基板材料3.高能激光器窗口镀层材料4.粉末冶金原料（粒径≤10μm级）5.航天器高温结构件（耐温≥2200℃）6.核聚变装置第一壁防护材料7.X射线管靶材基体材料

检测方法

1.ASTME1587-16《难熔金属化合物化学分析标准指南》2.ISO14703:2016《精细陶瓷晶相定量分析方法》3.GB/T5121.27-2022《铜及铜合金化学分析方法第27部分：铍含量测定》4.ISO13320:2020《粒度分析-激光衍射法》5.GB/T5163-2018《烧结金属材料密度测定》6.ASTME1019-18《金属中碳硫氮氧测定标准》7.ISO18757:2015《BET法比表面积测定》

检测设备

1.PANalyticalX'PertPowderX射线衍射仪（晶型定量分析）2.ThermoScientificiCAPPROICP-OES光谱仪（痕量元素检测）3.MalvernMastersizer3000激光粒度仪（0.01-3500μm测量范围）4.MicromeriticsAccuPycII1340氦气密度计（精度0.03%）5.LECOON836氧氮分析仪（氧含量检出限0.1ppm）6.NetzschSTA449F5同步热分析仪（TGA/DSC联用）7.QuantachromeNovaWinBET比表面分析仪（孔径范围3-500nm）8.HitachiSU5000场发射扫描电镜（EDS元素面分布分析）9.BrukerD8ADVANCEX荧光光谱仪（主成分快速筛查）10.Agilent7900ICP-MS质谱仪（超痕量杂质元素分析）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。