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基态检测

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文章概述:检测项目1.能级跃迁特性:测量带隙宽度(0.1-10eV)、激发态寿命(1ps-100ns)2.电子态密度(DOS):测量范围110^22-110^24cm^-3eV^-13.晶格振动模式:拉曼位移检测范围50-4000cm^-14.磁化率各向异性:灵敏度0.001emu/g5.热容温度响应:测试温区4-1000K检测范围1.III-V族化合物半导体(如GaAs、InP)2.过渡金属氧化物(如TiO2、ZnO)3.稀土掺杂发光材料(YAG:Ce、NaYF4:Yb/Er)4.二维层状材料(石墨烯、MoS2)

检测项目

1.能级跃迁特性:测量带隙宽度(0.1-10eV)、激发态寿命(1ps-100ns)2.电子态密度(DOS):测量范围110^22-110^24cm^-3eV^-13.晶格振动模式:拉曼位移检测范围50-4000cm^-14.磁化率各向异性:灵敏度0.001emu/g5.热容温度响应:测试温区4-1000K

检测范围

1.III-V族化合物半导体(如GaAs、InP)2.过渡金属氧化物(如TiO2、ZnO)3.稀土掺杂发光材料(YAG:Ce、NaYF4:Yb/Er)4.二维层状材料(石墨烯、MoS2)5.超导材料(YBCO、MgB2)

检测方法

1.X射线光电子能谱(XPS):ASTME2108-162.紫外光电子能谱(UPS):ISO21270:20183.拉曼光谱分析:GB/T36065-20184.扫描隧道显微镜(STM):ISO13083:20155.差示扫描量热法(DSC):GB/T19466.3-2004

检测设备

1.ThermoScientificESCALABXi+:XPS/UPS联用系统,能量分辨率≤0.45eV2.RenishawinViaQontor:共聚焦拉曼光谱仪,空间分辨率0.5μm3.JEOLJEM-ARM300F:球差校正透射电镜,点分辨率0.08nm4.QuantumDesignPPMSDynaCool:综合物性测量系统,磁场强度9T5.BrukerDimensionIcon:原子力显微镜,Z轴分辨率0.1nm6.NetzschSTA449F5Jupiter:同步热分析仪,温度精度0.1℃7.AgilentCary7000:全功能型分光光度计,波长范围175-3300nm8.OxfordInstrumentsOptistatCF:低温恒温器系统,最低温度1.5K9.MalvernPanalyticalEmpyrean:X射线衍射仪,角度重复性0.000110.HORIBAFluorolog-QM:稳态/瞬态荧光光谱仪,时间分辨率200fs

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

基态检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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