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软电弧检测

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文章概述:检测项目1.击穿电压测试:测量0.1-100kV范围内的介质击穿阈值2.电弧持续时间:记录10μs-10s区间的持续放电时间3.表面碳化轨迹:分析碳化路径长度(0.1-50mm)与形态特征4.能量密度分布:测定0.1-100J/cm范围内的能量梯度5.介质损耗角正切值:测量10⁻⁴-10⁻量级的tanδ参数检测范围1.高分子绝缘材料:交联聚乙烯(XLPE)、聚四氟乙烯(PTFE)2.陶瓷介质材料:氧化铝陶瓷(Al₂O₃)、氮化硅(Si₃N₄)3.复合绝缘制品:GIS盆式绝缘子、电缆终端头4.电子封装材料:

检测项目

1.击穿电压测试:测量0.1-100kV范围内的介质击穿阈值2.电弧持续时间:记录10μs-10s区间的持续放电时间3.表面碳化轨迹:分析碳化路径长度(0.1-50mm)与形态特征4.能量密度分布:测定0.1-100J/cm范围内的能量梯度5.介质损耗角正切值:测量10⁻⁴-10⁻量级的tanδ参数

检测范围

1.高分子绝缘材料:交联聚乙烯(XLPE)、聚四氟乙烯(PTFE)2.陶瓷介质材料:氧化铝陶瓷(Al₂O₃)、氮化硅(Si₃N₄)3.复合绝缘制品:GIS盆式绝缘子、电缆终端头4.电子封装材料:环氧模塑料(EMC)、硅凝胶5.特种涂层材料:聚酰亚胺涂层、等离子喷涂氧化层

检测方法

ASTMD495-14:固体电绝缘材料耐电弧测试标准IEC61621:1997:干式固体绝缘材料耐高压低电流电弧测试GB/T1411-2002:固体绝缘材料耐电痕化和蚀损试验方法ISO21207:2015:人工大气腐蚀试验中的加速腐蚀试验GB16927.1-2011:高电压试验技术通用要求

检测设备

1.HipotronicsLD-60:可输出60kV交流/直流测试电压2.OmicronMPD600:局部放电检测系统(灵敏度0.1pC)3.Chroma19032:耐电弧试验机(符合IEC60112标准)4.KeysightDSOX1204A:4GHz带宽数字示波器5.FLIRT1020:红外热像仪(热灵敏度<18mK)6.ZEISSAxioImager.M2m:三维金相显微镜(5000)7.Agilent4294A:精密阻抗分析仪(40Hz-110MHz)8.MitsubishiHV-100SCT:真空电弧发生装置(10⁻Pa)9.ShimadzuSMX-100CT:微焦点X射线检测系统(5μm分辨率)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

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中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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