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通用内存检测

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文章概述:检测项目1.频率测试:验证DDR4-3200至DDR5-6400的实际运行频率偏差(50MHz)2.时序参数测试:测量CL-tRCD-tRP-tRAS等关键时序值(精度0.1ns)3.电压容限测试:评估1.2V5%工作电压下的稳定性4.信号完整性测试:眼图高度≥200mV/宽度≥0.6UI5.温度循环测试:-40℃~85℃极端环境下的数据保持能力检测范围1.消费级DDR3/DDR4/DDR5UDIMM/SODIMM2.企业级RDIMM/LRDIMM服务器内存3.LPDDR4X/LPDDR5移动设备内存4.

检测项目

1.频率测试:验证DDR4-3200至DDR5-6400的实际运行频率偏差(50MHz)2.时序参数测试:测量CL-tRCD-tRP-tRAS等关键时序值(精度0.1ns)3.电压容限测试:评估1.2V5%工作电压下的稳定性4.信号完整性测试:眼图高度≥200mV/宽度≥0.6UI5.温度循环测试:-40℃~85℃极端环境下的数据保持能力

检测范围

1.消费级DDR3/DDR4/DDR5UDIMM/SODIMM2.企业级RDIMM/LRDIMM服务器内存3.LPDDR4X/LPDDR5移动设备内存4.GDDR6/GDDR6X显存模块5.工业级宽温(-40℃~105℃)内存模组

检测方法

1.信号完整性分析采用ASTMF1241-22高速数字信号测试规程2.电气性能测试执行JEDECJESD209-5CLPDDR5标准3.环境试验依据GB/T2423.22-2012温度循环试验方法4.时序校准参照ISO/IEC11801-6:2017高速接口规范5.EMC测试遵循GB/T17626.4-2018电快速瞬变脉冲群抗扰度要求

检测设备

1.KeysightDSAV334A示波器(70GHz带宽/256GSa/s采样率)2.AdvantestT5830内存测试机(支持DDR5-8400协议分析)3.Chroma3380P电源加载系统(0.5mV电压精度)4.ThermotronT-3400温控箱(-70℃~180℃线性变温)5.TektronixBERTScopeBSX系列误码率测试仪6.NIPXIe-4139高精度源测量单元7.AnritsuMP1900A信号质量分析仪8.ESPECEHS-211M湿热交变试验箱9.R&SZNB40矢量网络分析仪(10MHz~40GHz)10.XJTAGXVC-P4多通道协议验证平台

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

通用内存检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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