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合成金红石检测

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文章概述:检测项目1.化学成分分析:TiO₂含量(≥95%)、Fe₂O₃(≤0.3%)、SiO₂(≤1.2%)、Al₂O₃(≤0.5%)、灼烧减量(≤0.8%)2.晶体结构分析:金红石相含量(≥98%)、锐钛矿相占比(≤2%)、晶胞参数(a=4.593,c=2.959)3.粒度分布:D50粒径(0.2-50μm)、D90/D10比值(≤3.5)、比表面积(5-100m/g)4.光学性能:折射率(2.710.02@589nm)、消光系数(≤0.01@550nm)5.杂质元素:重金属总量(Pb+Cd+Hg+As≤50p

检测项目

1.化学成分分析:TiO₂含量(≥95%)、Fe₂O₃(≤0.3%)、SiO₂(≤1.2%)、Al₂O₃(≤0.5%)、灼烧减量(≤0.8%)2.晶体结构分析:金红石相含量(≥98%)、锐钛矿相占比(≤2%)、晶胞参数(a=4.593,c=2.959)3.粒度分布:D50粒径(0.2-50μm)、D90/D10比值(≤3.5)、比表面积(5-100m/g)4.光学性能:折射率(2.710.02@589nm)、消光系数(≤0.01@550nm)5.杂质元素:重金属总量(Pb+Cd+Hg+As≤50ppm)、放射性元素(U+Th≤10Bq/kg)

检测范围

1.陶瓷釉料用合成金红石:要求Fe₂O₃≤0.15%、粒径D50=1-5μm2.焊条药皮原料:SiO₂≤0.8%、灼烧减量≤0.5%3.钛白粉替代材料:金红石相≥99%、比表面积20-40m/g4.光学镀膜材料:折射率偏差≤0.005、表面羟基含量≤100ppm5.催化剂载体:孔容≥0.35cm/g、酸溶失率≤1%

检测方法

1.X射线荧光光谱法(GB/T14506.30-2010/ISO12677:2011)测定主量元素2.Rietveld全谱拟合(ASTME2627-10)定量物相组成3.激光衍射法(GB/T19077-2016/ISO13320:2020)测定粒度分布4.BET氮吸附法(GB/T19587-2017)测试比表面积5.ICP-MS法(GB/T36244-2018)检测痕量重金属6.X射线衍射摇摆曲线法(JISK0131-1996)评估晶体完整性7.UV-Vis-NIR分光光度计(ASTME958-13)测量光学常数

检测设备

1.RigakuZSXPrimusIVX射线荧光光谱仪:配备4kWRh靶管,可检测B-U元素2.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD:配置高温附件及PDF4+数据库3.MicromeriticsASAP2460比表面分析仪:孔径测量范围3.5-50004.ShimadzuICPMS-2030:检出限达ppt级,具备碰撞池技术5.HoribaLA-960激光粒度仪:测量范围10nm-3mm6.PerkinElmerLambda1050+紫外分光光度计:波长范围175-3300nm7.NetzschSTA449F3同步热分析仪:TG-DSC联用精度0.1μg8.BrukerD8ADVANCEXRD:配备LYNXEYEXE探测器9.AgilentCary7000全能型分光光度计:支持VW/VASE测量模式10.JEOLJSM-7900F场发射电镜:分辨率达0.8nm@15kV

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

合成金红石检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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