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真金散检测

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文章概述:检测项目1.成分分析:金(Au)含量≥99.95%,杂质元素(Ag/Cu/Fe/Pb)总量≤0.05%2.纯度验证:XRF法测定Au纯度偏差≤0.03%3.物理性能:密度19.320.15g/cm,维氏硬度25-35HV4.化学稳定性:硝酸浸泡24小时失重率≤0.001%5.粒度分布:D50粒径1.5-3.0μm,D90≤5.0μm(激光粒度仪测定)检测范围1.电子元件用金浆料:半导体封装/PCB导电线路2.珠宝首饰镀层材料:K金制品表面处理层3.工业催化剂载体:纳米金负载型催化剂4.医疗器械涂层:植入物

检测项目

1.成分分析:金(Au)含量≥99.95%,杂质元素(Ag/Cu/Fe/Pb)总量≤0.05%2.纯度验证:XRF法测定Au纯度偏差≤0.03%3.物理性能:密度19.320.15g/cm,维氏硬度25-35HV4.化学稳定性:硝酸浸泡24小时失重率≤0.001%5.粒度分布:D50粒径1.5-3.0μm,D90≤5.0μm(激光粒度仪测定)

检测范围

1.电子元件用金浆料:半导体封装/PCB导电线路2.珠宝首饰镀层材料:K金制品表面处理层3.工业催化剂载体:纳米金负载型催化剂4.医疗器械涂层:植入物抗菌镀层5.贵金属复合材料:金包覆陶瓷/高分子基材

检测方法

1.ASTME1335-08(2021):X射线荧光光谱法定量分析2.GB/T17363.2-2023:贵金属材料纯度测试规范3.ISO4499-2:2020:硬质合金中金属粘结相检测4.GB/T15072.15-2023:贵金属合金化学分析方法5.ASTMB748-90(2021):金属粉末粒度分布测试6.ISO17081:2014:氢渗透及扩散行为电化学测试

检测设备

1.X射线荧光光谱仪(XRF-2000):元素定量分析精度0.01%2.电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS7900):痕量元素检出限0.1ppb3.激光粒度分析仪(Mastersizer3000):测量范围0.01-3500μm4.显微硬度计(HVS-1000Z):载荷范围10-1000gf5.热重分析仪(TGA/DSC3+):温度精度0.1℃6.扫描电镜(SEMSU5000):分辨率1nm@15kV7.电化学工作站(PARSTAT4000A):阻抗测量频率10μHz-1MHz8.原子吸收光谱仪(AAnalyst800):火焰/石墨炉双模式9.密度测定仪(MD-300S):符合ISO3369标准10.盐雾试验箱(CCT-1000):温度波动1℃

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

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中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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