检测项目
1.灵敏度测试：测量单位输入量变化对应的输出信号变化率（mV/℃或μV/Pa）2.温度稳定性：-40℃~150℃范围内输出漂移量≤0.5%FS3.线性度误差：全量程范围内非线性偏差≤1.2%FS4.响应时间：阶跃输入下达到90%稳态值时间≤50ms5.耐久性测试：连续工作2000小时后性能衰减≤3%
检测范围
1.陶瓷基压电敏感元件（PZT系列）2.高分子复合温敏材料（PVDF薄膜）3.金属氧化物半导体气敏元件（SnO₂基）4.MEMS压力敏感芯片（硅基压阻式）5.光纤光栅应变敏感器件（FBG型）
检测方法
1.ASTME2593-17压电材料准静态测试规范2.ISO16063-21振动传感器校准方法3.GB/T2423.22-2012温度循环试验规程4.IEC60747-14-1半导体压力传感器测试标准5.GB/T18459-2015光纤传感器通用技术条件
检测设备
1.Keysight34972A数据采集仪：多通道电信号同步测量2.Fluke754过程校准器：0.01级标准信号源输出3.ESPECSH-642恒温恒湿箱：温度波动度0.3℃4.Brel&Kjr3053-B-060振动台：频率范围5Hz-10kHz5.MTSCriterion万能试验机：载荷精度0.5%示值6.Agilent34461A数字万用表：6位分辨率测量7.ThermoScientificHeratherm烤箱：最大温变率15℃/min8.OmicronBode100频响分析仪：10mHz-50MHz扫频测试9.NikonMM-400测量显微镜：0.5μm尺寸测量精度10.Endevco8510C冲击校准系统：5000g峰值加速度测试
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
