检测项目
1.光强分布均匀性：测量平面照度均匀度（≥95%），扫描精度0.5%
2.光谱功率密度：波长范围380-2500nm，分辨率≤1nm
3.发散角特性：半峰全宽角度测量精度0.1
4.时间稳定性：连续工作8小时光强波动≤1.5%
5.偏振相关性：消光比测试范围10⁻~10⁻⁶
检测范围
1.光学薄膜：AR镀膜、分光膜、滤光片等
2.半导体材料：GaN基LED外延片、SiC衬底
3.显示器件：LCD背光模组、OLED发光层
4.光纤器件：多模光纤耦合器、光纤跳线
5.照明系统：汽车大灯模组、投影仪光源
检测方法
ASTME275-08(2017)：描述光谱辐射测量的标准实施规程
ISO13694:2018：光学和光子学-激光及激光相关设备-激光束功率密度分布的测试方法
GB/T26189-2010：均匀色空间及色差公式
GB/T17683.1-1999：太阳辐射光谱测量第1部分：总辐射和直射辐射
IEC62906-5-3:2017：激光显示器件光学性能测量方法
检测设备
1.PM320E光功率计：0.1nW-2W量程，波长响应190-1100nm
2.OL770-LED光谱辐射计：0.25nm分辨率，动态范围10⁶:1
3.ProMetricY32成像色度计：32MP分辨率，CIEXYZ色彩匹配
4.LabSphereLMS-7600积分球：直径760mm，反射率＞98%
5.ThorlabsPAX1000偏振分析仪：波长范围400-700nm
6.OphirPD300-3W热释电探测器：响应时间0.4s
7.Newport818-ST2-DIF-CAL探头：有效面积1cm0.5%
8.HamamatsuC12880微型光谱仪：340-850nm波段采样间隔0.15nm
9.KeysightN7744A多通道光功率计：4通道同步测量精度0.02dB
10.OptronicLaboratoriesOL455校准光源：输出稳定性0.25%/h
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
