检测项目

化学成分检测：

• 锗含量：Ge wt%（参照ISO 3100），检测限≤0.01%
• 杂质元素：As、Sb ppm（参照ASTM E1479），允许偏差±5ppm

• 密度：g/cm³（参照GB/T 1033），测量精度±0.01
• 硬度：莫氏硬度（参照ASTM D785），标准值≥6.0
• 热导率：W/(m·K)（参照ISO 22007），范围0.1-50

• 折射率：n值（参照ISO 489），偏差±0.001
• 透光率：%T（参照ASTM D1003），要求≥90%

• 电阻率：Ω·cm（参照GB/T 1551），标准值≤0.1
• 载流子浓度：cm⁻³（参照ISO 3907），精度±1%

• 晶粒尺寸：μm（参照ASTM E112），评级≥5级
• 缺陷密度：defects/cm²（参照ISO 4967），上限≤100

• 粗糙度：Ra μm（参照ISO 4287），范围0.01-10
• 耐磨性：mg/1000转（参照GB/T 1768），损失量≤0.5

• 热膨胀系数：ppm/°C（参照ASTM E831），标准值5-10
• 熔点：°C（参照ISO 11357），偏差±1

• 抗压强度：MPa（参照GB/T 7314），要求≥100
• 弹性模量：GPa（参照ISO 527），精度±2%

• 金属杂质：ppm（参照ISO 11885），总含量≤10
• 非金属杂质：wt%（参照ASTM E1019），检测限0.001

• 伽马射线响应：cps（参照ISO 4037），灵敏度≥1000
• 中子吸收截面：barn（参照ASTM E262），标准值≥100

检测范围

1. 原生锗矿石： 含锗品位0.1-5%，重点检测杂质元素分布及选矿效率

2. 锗单晶材料： 用于半导体器件，侧重晶格缺陷和电学性能一致性

3. 锗合金制品： 如Ge-Si合金，检测热膨胀匹配及成分偏差

4. 锗化合物粉末： 如GeO₂，重点评估粒径分布及纯度

5. 锗基光学透镜： 红外应用，检测折射率均匀性及表面光洁度

6. 锗薄膜涂层： 沉积于基材，侧重厚度精度及附着力

7. 锗废料回收品： 二次资源，重点分析回收率及污染物控制

8. 锗掺杂材料： 如掺杂硅锗，检测载流子浓度均匀性

9. 锗基辐射探测器： 核工业应用，侧重伽马射线响应线性度

10. 锗纳米颗粒： 尺寸<100nm，检测比表面积及稳定性

检测方法

国际标准：

• ISO 3100 锗矿石化学分析方法（使用酸消解法）
• ASTM E1479 杂质元素光谱测定法（氩气环境要求）
• ISO 4287 表面粗糙度光学测量法（非接触式）
• ASTM E112 晶粒尺寸金相评级法（显微镜放大倍数差异）

• GB/T 2055 锗材料密度测试方法（水置换法）
• GB/T 1033 塑料密度测定（适用锗聚合物）
• GB/T 1551 半导体电阻率测试（四探针法）
• GB/T 1768 耐磨性旋转测试（载荷范围差异）

检测设备

1. X射线荧光光谱仪： PANalytical Axios MAX型（检测限0.001%，精度±0.1%）

2. 密度计： Mettler Toledo XS204型（量程0.001-100g/cm³，精度±0.0001）

3. 莫氏硬度计： Buehler Micromet 5100型（标尺范围1-10，分辨率0.1）

4. 扫描电子显微镜： Hitachi SU8000型（分辨率1nm，加速电压0.5-30kV）

5. 热导率测试仪： Netzsch LFA 467型（温度范围-150-500°C，精度±1%）

6. 折射率测量仪： Rudolph J357型（波长范围400-1700nm，偏差±0.0001）

7. 四探针电阻仪： Lucas Labs Pro4型（量程0.0001-100Ω·cm，精度±0.5%）

8. 热膨胀分析仪： TA Instruments DIL 802型（升温速率0.1-20°C/min，精度±0.1ppm）

9. 伽马射线计数器： Ortec Detective-R型（能量范围20-3000keV，灵敏度100cps）

10. 粒度分析仪： Malvern Mastersizer 3000型（粒径范围0.01-3500μm，精度±0.1%）

11. 表面粗糙度仪： Taylor Hobson Talysurf i60型（Ra测量范围0.001-100μm，分辨率0.001）

12. 万能材料试验机： Instron 5967型（载荷范围0.001-50kN，精度±0.2%）

13. 金相显微镜： Olympus BX53M型（放大倍数50-1000×，数码分辨率5MP）

14. 热分析仪： PerkinElmer DSC 8000型（熔点检测范围-180-700°C，精度±0.1°C）

15. 光谱辐射计： Avantes AvaSpec-JianCeS2048型（波长范围200-1100nm，积分时间1ms-10s）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。