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锗石检测-检测范围

检测项目

化学成分检测:

  • 锗含量测定:Ge纯度≥99.99%(ISO 17294-2)
  • 杂质元素分析:砷含量≤0.001%、铁含量≤0.01%(GB/T 12690)
  • 痕量金属检测:铅、镉、汞限量(ASTM D1976)
物理性能检测:
  • 密度测试:5.32-5.35g/cm³(ASTM B311)
  • 硬度测量:莫氏硬度6.0±0.5(GB/T 4340.1)
  • 晶格参数:晶胞尺寸误差≤0.005nm(ISO 14706)
放射性检测:
  • 铀钍含量:U≤1ppm、Th≤2ppm(ASTM C1001)
  • 伽马辐射:剂量率≤0.5μSv/h(GB 18871)
热性能检测:
  • 熔点测定:937.4±0.5℃(ISO 11357)
  • 热膨胀系数:线性膨胀≤6.1×10⁻⁶/K(ASTM E228)
光学性能检测:
  • 折射率测试:4.0-4.1(632.8nm波长,ISO 9342)
  • 透射率测定:红外波段≥90%(ASTM E903)
电学性能检测:
  • 电阻率:0.01-100Ω·cm(室温,GB/T 1551)
  • 载流子浓度:101⁴-101⁶ cm⁻³(霍尔效应,ISO 17470)
机械性能检测:
  • 抗拉强度:≥50MPa(单晶锗,ASTM E8)
  • 断裂韧性:KIC≥0.8 MPa·m¹/²(GB/T 4161)
纯度测试:
  • 氧含量:≤1ppm(惰性气体熔融法,ASTM E1409)
  • 碳硫分析:C≤0.005%、S≤0.001%(ISO 15350)
杂质分布检测:
  • 微观偏析:夹杂物评级≤B级(GB/T 10561)
  • 表面污染:金属残留≤0.1μg/cm²(ISO 14706)
结构分析检测:
  • X射线衍射:晶向偏差≤0.5°(ASTM D3906)
  • 扫描电镜:缺陷密度≤104/cm²(GB/T 20307)

检测范围

1. 原生锗矿石: 包括锗石、锗辉石等矿物,检测重点为锗品位分析(0.1-1%)和重金属杂质控制

2. 锗精矿: 富集后材料(锗含量10-60%),侧重杂质元素去除率和放射性安全

3. 金属锗锭: 高纯锗块(纯度≥99.99%),核心检测为晶格完整性及电学性能

4. 锗单晶材料: 半导体级单晶,重点验证位错密度和光学均匀性

5. 锗化合物: 如二氧化锗(GeO₂),检测化学纯度(≥99.9%)和粒径分布

6. 锗合金: 锗锡、锗硅合金,关注成分偏差(±0.1wt%)和热稳定性

7. 锗基半导体: 晶圆及器件,检测载流子迁移率和表面缺陷

8. 锗玻璃: 红外光学玻璃,重点测定折射率稳定性和透射损失

9. 回收锗材料: 废料再生产物,核心检测杂质累积及纯度恢复

10. 锗涂层材料: 薄膜及镀层,侧重厚度均匀性(±0.1μm)和附着力

检测方法

国际标准:

  • ISO 17294-2:2016 电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)元素分析
  • ASTM E8/E8M-22 金属材料拉伸试验方法(应变速率控制更严格)
  • ISO 14706:2014 表面污染X射线荧光光谱法
国家标准:
  • GB/T 12690-2020 稀土金属化学分析方法(杂质检测限较低)
  • GB/T 228.1-2021 金属材料拉伸试验(与ASTM应变速率存在差异)
  • GB 18871-2002 电离辐射防护标准(剂量限值更严)

检测设备

1. X射线荧光光谱仪: XRF-5000Pro(检测限0.001%,元素范围Na-U)

2. 电感耦合等离子体质谱仪: ICP-MS-8000(分辨率0.8amu,检出限ppt级)

3. 万能材料试验机: MT-1000(载荷0.1-100kN,精度±0.3%)

4. 密度计: DEN-450(测量范围0-10g/cm³,误差±0.001g/cm³)

5. 原子吸收光谱仪: AAS-300(波长190-900nm,检出限ppb)

6. X射线衍射仪: XRD-7000(角度精度0.001°,20-80°范围)

7. 扫描电子显微镜: SEM-500(分辨率1nm,放大倍数10-300k)

8. 霍尔效应测试系统: HET-200(磁场强度1.5T,精度±1%)

9. 热分析仪: TGA-DSC-600(温度范围-150-1500℃,灵敏度0.1μg)

10. 红外光谱仪: FTIR-850(波段4000-400cm⁻¹,分辨率4cm⁻¹)

11. 伽马辐射仪: GRM-100(剂量率0.01-100μSv/h,误差±5%)

12. 激光粒度分析仪: LPA-300(粒径范围0.01-3000μm,精度±0.1%)

13. 显微硬度计: HV-100(载荷10-1000gf,读数精度0.1HV)

14. 表面轮廓仪: SP-200(垂直分辨率0.1nm,扫描速度5mm/s)

15. 惰性气体熔融仪: O/N-H-3000(氧氮检出限0.1ppm,氢气纯度99.999%)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

锗石检测-检测范围
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。