内容页头部

片状测试

检测项目

厚度检测:测量范围0.01-5.00mm,精度±0.5μm,重点关注边缘与中心区域的厚度偏差

面密度测定:采用非破坏性β射线法(量程5-500g/m²),允许误差≤±0.3%

拉伸强度测试:依据标准试样尺寸(25×150mm),测试速度1-500mm/min可调

表面粗糙度分析:Ra检测范围0.05-10μm,配备3D轮廓扫描功能

热收缩率评估:温控范围25-300℃,精度±0.5℃,记录各向异性收缩差异

检测范围

金属箔材:铝箔(1060-O态)、铜箔(C1100)、钛箔(Gr1)等,厚度≤0.2mm

高分子薄膜:BOPP包装膜、PET光学膜、PVDF锂电池隔膜等

复合材料片材:碳纤维预浸料(T300/环氧)、芳纶纸蜂窝芯材

陶瓷基片:氧化铝基板(96%纯度)、氮化硅导热片

涂层薄片:PVD镀膜玻璃(Ag/TiN)、热障涂层试样(YSZ)

检测方法

ASTM E252:β射线面密度测量标准,适用于0.1-10mil厚度范围

ISO 4591:塑料薄膜厚度测定方法,规定23±2℃恒温环境要求

GB/T 6672:非金属薄材厚度测量规范,明确10点采样法

ISO 527-3:塑料薄膜拉伸性能测试,试样类型1B

ASTM D1004:塑料薄膜抗撕裂性测试(直角撕裂法)

GB/T 4340.1:金属薄片维氏硬度试验,载荷0.098-9.807N可选

检测设备

Mitutoyo Litematic VL-50:激光测厚仪,分辨率0.01μm,配备自动平台扫描功能

X-Rite 341:β射线面密度仪,双放射源(Pm-147/Kr-85)配置

Instron 5967:万能材料试验机,最大负荷50kN,配置非接触式视频引伸计

Taylor Hobson Form Talysurf i-Series:表面轮廓仪,支持ISO 4287参数自动计算

Shimadzu TMA-60:热机械分析仪,可同步测定热膨胀系数与收缩率

Olympus DSX1000:数码显微系统,搭配EDS模块实现微区成分分析

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

片状测试
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。