片状测试
检测项目
厚度检测:测量范围0.01-5.00mm,精度±0.5μm,重点关注边缘与中心区域的厚度偏差
面密度测定:采用非破坏性β射线法(量程5-500g/m²),允许误差≤±0.3%
拉伸强度测试:依据标准试样尺寸(25×150mm),测试速度1-500mm/min可调
表面粗糙度分析:Ra检测范围0.05-10μm,配备3D轮廓扫描功能
热收缩率评估:温控范围25-300℃,精度±0.5℃,记录各向异性收缩差异
检测范围
金属箔材:铝箔(1060-O态)、铜箔(C1100)、钛箔(Gr1)等,厚度≤0.2mm
高分子薄膜:BOPP包装膜、PET光学膜、PVDF锂电池隔膜等
复合材料片材:碳纤维预浸料(T300/环氧)、芳纶纸蜂窝芯材
陶瓷基片:氧化铝基板(96%纯度)、氮化硅导热片
涂层薄片:PVD镀膜玻璃(Ag/TiN)、热障涂层试样(YSZ)
检测方法
ASTM E252:β射线面密度测量标准,适用于0.1-10mil厚度范围
ISO 4591:塑料薄膜厚度测定方法,规定23±2℃恒温环境要求
GB/T 6672:非金属薄材厚度测量规范,明确10点采样法
ISO 527-3:塑料薄膜拉伸性能测试,试样类型1B
ASTM D1004:塑料薄膜抗撕裂性测试(直角撕裂法)
GB/T 4340.1:金属薄片维氏硬度试验,载荷0.098-9.807N可选
检测设备
Mitutoyo Litematic VL-50:激光测厚仪,分辨率0.01μm,配备自动平台扫描功能
X-Rite 341:β射线面密度仪,双放射源(Pm-147/Kr-85)配置
Instron 5967:万能材料试验机,最大负荷50kN,配置非接触式视频引伸计
Taylor Hobson Form Talysurf i-Series:表面轮廓仪,支持ISO 4287参数自动计算
Shimadzu TMA-60:热机械分析仪,可同步测定热膨胀系数与收缩率
Olympus DSX1000:数码显微系统,搭配EDS模块实现微区成分分析
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。