检测项目
1.纯度测定：采用X射线荧光光谱法（XRF），检测范围99.5%-99.99%，误差≤0.05%2.粒径分布：激光粒度仪测定D10/D50/D90值，测量范围0.02-2000μm3.晶型结构分析：X射线衍射（XRD）识别α/β/γ相含量比例4.比表面积：BET氮气吸附法测定1-1000m/g范围5.杂质元素：ICP-MS检测As、Pb、Cd等重金属含量（限值≤10ppm）
检测范围
1.电子陶瓷原料：压电陶瓷基体材料2.催化剂载体：光催化反应体系用Bi₂O₃粉末3.玻璃添加剂：高折射率光学玻璃原料4.核辐射屏蔽材料：复合屏蔽板芯材5.医药中间体：放射性显影剂前驱体
检测方法
1.ASTMC1469-10(2020)：氧化铋化学分析标准指南2.ISO23201:2015纳米材料粒径分布测定通则3.GB/T26319-2010电子级三氧化二铋技术要求4.JISK0133:2022X射线荧光光谱通则5.GB/T19587-2017气体吸附BET法测定固态物质比表面积
检测设备
1.RigakuSmartLab9kWX射线衍射仪：θ-θ测角仪系统，Cu靶Kα辐射（λ=1.5406）2.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：量程0.01-3500μm，干湿法双模测量3.ThermoFisherARLPERFORM'XXRF光谱仪：4kWRh靶超尖锐端窗管4.MicromeriticsASAP2460比表面分析仪：0-760mmHg压力范围，6站并行测试5.Agilent7900ICP-MS质谱仪：质量数范围2-260amu，检出限0.1ppt6.HitachiSU5000场发射电镜：分辨率0.8nm@15kV，EDS能谱附件7.NetzschSTA449F3同步热分析仪：TG-DSC联用精度0.1μg8.PerkinElmerLambda950紫外分光光度计：波长范围175-3300nm9.BrukerD8ADVANCEXRD系统：LynxEye阵列探测器10.HoribaLA-950V2激光散射仪：双波长（405nm/635nm）动态光散射
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
