检测项目
1.尺寸偏差分布：测量特征尺寸在0.05mm至2.5mm范围内的离散系数（CV值≤15%）2.密度梯度波动：分析体积密度在1.2-8.9g/cm区间内的标准差（σ≤0.3g/cm）3.表面粗糙度离散：Ra值在0.1-12.5μm范围内的概率密度函数拟合度（R≥0.95）4.孔隙率随机分布：统计孔径0.5-200μm的Weibull分布模数（m≥1.8）5.硬度值离散度：HV硬度在50-800范围内的变异系数（Cv≤8%）
检测范围
1.金属基复合材料：包括铝基碳化硅（Al-SiC）、钛基碳纤维（Ti-Cf）等2.高分子注塑制品：ABS/PC合金件、PEEK精密部件等3.陶瓷烧结体：氧化锆结构件、氮化硅轴承球等4.粉末冶金制品：铁基含油轴承、硬质合金刀具等5.电子元器件：BGA封装基板、MLCC电容器介质层等
检测方法
1.ASTME112-13：晶粒度统计分析标准2.ISO25178-2:2022：表面形貌面积分布测量规范3.GB/T4340.1-2009：维氏硬度离散度测试规程4.ISO3369:2006：不透性烧结金属材料密度分布测定5.GB/T19624-2019：承压设备概率缺陷评估方法6.ASTMB962-17：粉末冶金制品孔隙率统计标准
检测设备
1.HexagonAbsoluteArm7520SI：三维激光扫描仪，空间分辨率1μm2.KeyenceVHX-7000数字显微镜：5000倍光学放大，景深合成功能3.OlympusGX53金相显微镜：微分干涉对比（DIC）成像系统4.InstronCEAST9340落锤冲击仪：最大冲击能量950J5.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：测量范围0.01-3500μm6.MitutoyoSJ-410表面轮廓仪：Z轴分辨率0.01μm7.NetzschLFA467HyperFlash：热扩散系数面分布测量系统8.ZeissXradia620Versa：亚微米级三维X射线显微镜9.ShimadzuHMV-G21ST显微硬度计：载荷范围10gf-2kgf10.Agilent5500AFM原子力显微镜：横向分辨率0.2nm
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
