检测项目
1.时序特性：建立时间（tsu≥2.5ns）、保持时间（th≥1.8ns）2.传输延迟：CLK至Q端延迟（tpd≤5.0ns）3.功耗特性：静态电流（Isb≤10μA@3.3V）4.噪声容限：VIL/VIH阈值（0.3VDD-0.7VDD）5.温度特性：工作范围（-40℃~+125℃）6.信号完整性：上升/下降时间（tr/tf≤1.2ns）
检测范围
1.CMOS/TTL逻辑集成电路2.FPGA可编程门阵列芯片3.高速通信模块（PCIe/USB3.0接口）4.数字信号处理器（DSP）内核电路5.汽车电子ECU控制单元6.航天级抗辐射存储器件
检测方法
1.ASTMF1241-22《数字集成电路时序参数测试规程》2.ISO11452-4:2020《道路车辆电气干扰测试方法》3.GB/T17574-2021《半导体器件集成电路通用规范》4.IEC60749-27:2023《半导体器件机械与气候试验方法》5.GB/T34325-2017《航天用半导体集成电路筛选规范》6.JEDECJESD22-A114F《静电放电敏感度测试》
检测设备
1.TektronixDPO7254C示波器（8GHz带宽,40GS/s采样率）2.KeysightB1500A半导体参数分析仪（200V/1A量程）3.AdvantestV93000ATE测试系统（1024数字通道）4.Agilent16800系列逻辑分析仪（136通道,8GHz状态捕获）5.ThermoStreamT-2600温度冲击箱（-65℃~+200℃）6.EMTestUCS500N20脉冲群发生器（5kV/200A）7.Chroma3380P功率分析仪（0.05%精度,500kHz带宽）8.NIPXIe-5164高速数字化仪（14位分辨率,1GS/s）9.R&SFSW67信号分析仪（67GHz射频测试能力）10.HASAHC-F3000三综合试验箱（温湿振复合应力测试）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
