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平均寻道时间检测

检测项目

标准寻道时间测量:单磁道(0.5μm)至全行程(25mm)位移响应,测试精度±0.1μs

随机寻道离散度分析:1000次随机LBA访问的时延标准差(σ≤5%)

全盘遍历稳定性测试:7200/10000/15000 RPM转速下的连续扫描波动值(≤2.5%)

温度梯度影响检测:-20℃至85℃温变环境中磁头定位偏差(Δ≤0.8μm/℃)

振动干扰容限验证:3轴6自由度振动台模拟5-2000Hz频谱下的寻道失败率(FR<0.01%)

检测范围

机械硬盘(HDD):2.5"/3.5"企业级硬盘,重点关注音圈电机驱动特性

固态混合硬盘(SSHD):NAND缓存与磁介质协同工作的寻道优化验证

全闪存阵列控制器:PCIe 4.0/5.0接口的逻辑寻址延迟特性

工业级存储模块:宽温(-40℃~105℃)工况下的伺服系统稳定性

高密度近线存储设备:HAMR(热辅助磁记录)技术的微秒级寻道精度标定

检测方法

ISO/IEC 19444-3:2021:存储设备机械特性测试规范第3部分(动态响应参数)

ASTM E2536-21a:精密运动系统阶跃响应与频率响应分析方法

JEDEC JESD219B:固态存储设备随机访问性能剖面建模

IEC 60068-2-64:2019:宽频振动对机械组件影响的定量评估

ANSI/CEA-2018:温变环境下伺服系统稳态误差补偿算法验证

检测设备

Keysight N6705C精密伺服分析仪:具备16bit/10MHz采样率,支持PID控制环路实时调试

Polytec MSV-400激光多普勒测振仪:0.1nm位移分辨率,最高200kHz测量带宽

Thermotron ST-300三综合试验箱:温度变化速率≥10℃/min,集成6轴振动台

National Instruments PXIe-5171R高速采集卡:8通道同步采样,18bit有效精度

Kistler 9310AA六维力传感器:XYZ轴向力检测范围±500N,力矩精度0.02N·m

技术优势

持有CNAS L12345认证(依据ISO/IEC 17025:2017)和A2LA国际互认资质

实验室配置Class 1000洁净室与主动隔振平台(振动≤0.02μm RMS)

采用TracePro光学仿真软件实现磁头-盘片界面纳米级运动建模

具备ASME B89.3.4-2010标准认证的微米级运动平台校准能力

测试数据通过NIST可溯源计量体系认证(证书编号MSL#2023-085)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

平均寻道时间检测
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。