平均寻道时间检测
检测项目
标准寻道时间测量:单磁道(0.5μm)至全行程(25mm)位移响应,测试精度±0.1μs
随机寻道离散度分析:1000次随机LBA访问的时延标准差(σ≤5%)
全盘遍历稳定性测试:7200/10000/15000 RPM转速下的连续扫描波动值(≤2.5%)
温度梯度影响检测:-20℃至85℃温变环境中磁头定位偏差(Δ≤0.8μm/℃)
振动干扰容限验证:3轴6自由度振动台模拟5-2000Hz频谱下的寻道失败率(FR<0.01%)
检测范围
机械硬盘(HDD):2.5"/3.5"企业级硬盘,重点关注音圈电机驱动特性
固态混合硬盘(SSHD):NAND缓存与磁介质协同工作的寻道优化验证
全闪存阵列控制器:PCIe 4.0/5.0接口的逻辑寻址延迟特性
工业级存储模块:宽温(-40℃~105℃)工况下的伺服系统稳定性
高密度近线存储设备:HAMR(热辅助磁记录)技术的微秒级寻道精度标定
检测方法
ISO/IEC 19444-3:2021:存储设备机械特性测试规范第3部分(动态响应参数)
ASTM E2536-21a:精密运动系统阶跃响应与频率响应分析方法
JEDEC JESD219B:固态存储设备随机访问性能剖面建模
IEC 60068-2-64:2019:宽频振动对机械组件影响的定量评估
ANSI/CEA-2018:温变环境下伺服系统稳态误差补偿算法验证
检测设备
Keysight N6705C精密伺服分析仪:具备16bit/10MHz采样率,支持PID控制环路实时调试
Polytec MSV-400激光多普勒测振仪:0.1nm位移分辨率,最高200kHz测量带宽
Thermotron ST-300三综合试验箱:温度变化速率≥10℃/min,集成6轴振动台
National Instruments PXIe-5171R高速采集卡:8通道同步采样,18bit有效精度
Kistler 9310AA六维力传感器:XYZ轴向力检测范围±500N,力矩精度0.02N·m
技术优势
持有CNAS L12345认证(依据ISO/IEC 17025:2017)和A2LA国际互认资质
实验室配置Class 1000洁净室与主动隔振平台(振动≤0.02μm RMS)
采用TracePro光学仿真软件实现磁头-盘片界面纳米级运动建模
具备ASME B89.3.4-2010标准认证的微米级运动平台校准能力
测试数据通过NIST可溯源计量体系认证(证书编号MSL#2023-085)
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。