检测项目
1.光谱反射率（250-2500nm波长范围）2.薄膜厚度（1nm-50μm精度0.5%）3.表面粗糙度（Ra0.01-10μm测量范围）4.颜色坐标（CIEL*a*b*色差ΔE≤0.1）5.折射率（1.3-4.0区间精度0.001）6.偏振特性（消光比≥30dB）7.界面缺陷（最小检出尺寸10μm）
检测范围
1.光学薄膜（增透膜/反射膜/滤光片）2.金属镀层（Au/Ag/Al等真空镀膜）3.半导体晶圆（Si/GaAs/SiC衬底）4.陶瓷基板（Al₂O₃/AlN/LTCC）5.高分子材料（PET/PC/PMMA薄膜）6.光伏组件（PERC/HJT电池片）7.汽车涂层（清漆/金属漆/电泳层）
检测方法
ASTME903-20《材料光谱反射率标准测试方法》ISO13696:2002《光学元件散射特性测量规范》GB/T22461-2008《镜面光泽度测定方法》ISO14782:2015《透明材料雾度测量规程》ASTMD5767-18《X射线反射法测薄膜厚度》GB/T3949-2021《椭偏仪测量薄膜光学常数》ISO25178-604:2013《非接触式粗糙度测量》
检测设备
1.PerkinElmerLambda1050+紫外可见近红外分光光度计（190-3300nm全波段分析）2.HoribaUVISEL2相位调制型椭圆偏振仪（0.01nm膜厚分辨率）3.BrukerDektakXT台阶仪（12垂直分辨率）4.FilmetricsF20系列薄膜分析系统（1ms快速测量响应）5.ZygoNewView9000白光干涉仪（0.1nm粗糙度精度）6.OceanInsightHDX-VIS-NIR光纤光谱仪（350-2500nm宽谱测量）7.ShimadzuISR-2600积分球附件（8角定向反射测量）8.J.A.WoollamM-2000V宽频椭偏仪（245-1700nm可变入射角）9.KeyenceVK-X3000激光共聚焦显微镜（12000:1动态范围）10.AgilentCary7000全能型分光光度计（支持UMA绝对反射附件）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
