- By 中析研究所
- 2024-07-20 00:01:17
位错间距检测可以使用电子显微镜（Electron Microscope）。电子显微镜能够提供高分辨率的图像，可用于观察位错的间距和分布。
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- By 中析研究所
- 2024-07-19 23:58:56
电子显微镜：可用于观察位错节的微观结构和弯曲情况。
X 射线衍射仪：可以分析晶体结构和位错密度。
原子力显微镜：用于检测位错节的表面形貌和弯曲程度。
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- By 中析研究所
- 2024-07-19 23:56:19
电子显微镜：可以直接观察到位错空洞的形态和分布。
X 射线衍射仪：用于分析晶体结构，可检测到位错空洞引起的晶格畸变。
原子力显微镜：能够提供高分辨率的表面形貌图像，有助于检测
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- By 中析研究所
- 2024-07-19 23:55:34
无切削成形检测通常涉及对材料在无切削加工过程中的性能和质量进行评估，以确保产品符合相关标准和要求。尺寸精度检测：测量无切削成形产品的尺寸，确保其符合设计要求。形状精度
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- By 中析研究所
- 2024-07-19 23:53:55
光学显微镜：用于观察材料表面的位错和裂纹。
扫描电子显微镜（SEM）：能够提供高分辨率的图像，可用于检测位错和裂纹的形态、分布等。
X 射线衍射仪（XRD）：通过分析材料的晶体结构，确定位
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- By 中析研究所
- 2024-07-19 23:51:27
X 射线衍射仪：用于测量晶体结构和位错密度。
电子背散射衍射仪（EBSD）：可以分析晶体取向和位错密度。
透射电子显微镜（TEM）：用于观察位错的形态和分布。
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- By 中析研究所
- 2024-07-19 23:49:00
X 射线衍射仪：用于检测晶体结构中的位错和扭折。
扫描电子显微镜：可以观察材料表面的微观结构，包括位错和扭折。
透射电子显微镜：提供高分辨率的微观结构图像，有助于检测位错和扭
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- By 中析研究所
- 2024-07-19 23:46:38
X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和位错密度。
扫描电子显微镜：可观察位错的形态和分布。
原子力显微镜：能提供高分辨率的表面形貌和力学信息。
透射电子显微镜：用于位错的微观结
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