检测项目

1.矫顽力（Hc）：测量范围0.1-3000kA/m，精度0.5%

2.饱和磁化强度（Ms）：测试范围10-2500emu/g，分辨率0.1emu

3.剩磁比（Mr/Ms）：计算值0.1-1.0，误差≤0.02

4.畴壁迁移率：测试频率DC-10kHz，灵敏度0.1μm/(ms)

5.磁畴尺寸分布：观测尺度50nm-500μm，定位精度5nm

检测范围

1.永磁材料：钕铁硼（NdFeB）、钐钴（SmCo）、铝镍钴（AlNiCo）

2.软磁材料：硅钢片、非晶合金（FeSiB）、坡莫合金（FeNi）

3.薄膜材料：巨磁阻薄膜（CoFeB）、磁性存储介质（CoCrPt）

4.磁性存储介质：硬盘盘片、磁带涂层

5.磁性复合材料：铁氧体-聚合物复合材料、纳米晶带材

检测方法

1.ASTMA977：交变梯度磁强计法测量动态磁化曲线

2.ISO21726：洛伦兹透射电镜观测磁畴结构标准

3.GB/T13888-2009：振动样品磁强计法测定静态磁性参数

4.GB/T3656-2008：永磁材料开路磁通温度特性测试

5.ISO19860：克尔效应显微镜观测表面磁畴技术规范

检测设备

1.LakeShore7404系列振动样品磁强计：测量范围3T，温度控制4-800K

2.QuantumDesignPPMSDynaCool：综合物性测量系统（磁场9T）

3.JEOLJEM-3200FS洛伦兹电镜：空间分辨率0.34nm（磁场环境）

4.BrukerDimensionIconMFM原子力显微镜：磁场灵敏度10μT

5.EvicoMagneticsKerr显微镜：横向分辨率200nm@50物镜

6.OxfordInstrumentsMagLabEXA：交变梯度磁强计（AC/DC模式）

7.HitachiHF5000场发射透射电镜：配备Lorentz透镜组

8.KeysightB1500A半导体分析仪：配合四探针法测薄膜磁性

9.MicroSenseEZ9矢量振动样品磁强计：快速扫描模式（10Hz）

10.NeoceraPulseModulator：脉冲磁场发生器（峰值10T）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。