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无源红外仪检测

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:检测项目1.温度范围测量:-40℃至3000℃,精度0.5%读数或1℃(取较大值)2.波长响应范围:8μm-14μm长波红外波段3.噪声等效温差(NETD):≤40mK@25℃4.空间分辨率:1.1mrad至3.5mrad可调5.响应时间:≤15ms(95%信号稳定)检测范围1.半导体材料:晶圆表面温度分布与热阻特性分析2.高分子聚合物:注塑成型过程的热变形监测3.金属涂层:镀层厚度与热传导系数关联性研究4.生物组织:皮肤表面温度场成像与病理诊断5.建筑材料:外墙保温系统热桥效应评估检测方法1.ASTME

检测项目

1.温度范围测量:-40℃至3000℃,精度0.5%读数或1℃(取较大值)2.波长响应范围:8μm-14μm长波红外波段3.噪声等效温差(NETD):≤40mK@25℃4.空间分辨率:1.1mrad至3.5mrad可调5.响应时间:≤15ms(95%信号稳定)

检测范围

1.半导体材料:晶圆表面温度分布与热阻特性分析2.高分子聚合物:注塑成型过程的热变形监测3.金属涂层:镀层厚度与热传导系数关联性研究4.生物组织:皮肤表面温度场成像与病理诊断5.建筑材料:外墙保温系统热桥效应评估

检测方法

1.ASTME1256-17《StandardTestMethodsforRadiationThermometers》2.ISO18434-1:2008《Conditionmonitoringanddiagnosticsofmachines-Thermography》3.GB/T19870-2018《工业检测型红外热像仪》4.GB/T13301-2019《金属材料高温拉伸试验方法》关联热成像校准5.IEC62464-1:2016《Medicalelectricalequipment-CharacteristicsofdigitalX-rayimagingdevices》红外兼容性测试

检测设备

1.FLIRT1030sc:1024768像素分辨率,支持10Hz高速测温2.Testo885-2:配备SuperResolution技术提升至320240像素3.HikmicroB10:集成激光测距功能的双光融合红外热像仪4.KeysightU5855A:TrueIR系列手持式热像仪,支持-20℃至1500℃宽温域5.NECTH9100:多光谱分析模块实现物质成分识别6.OptrisPI640i:25Hz帧频与2℃测温精度工业级设备7.InfraTecImageIR8300:640512像素制冷型中波红外相机8.SATIRGD200:防爆型红外热像仪(ATEX/IECEx认证)9.WuhanGuideGP720:国产高精度科研级红外成像系统10.XenicsGobi-640-GigE:非制冷长波红外相机(NETD<50mK)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

无源红外仪检测
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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