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文章概述：正向互导纳检测（Forward Scattering Interferometry）是一种用于表征光学薄膜厚度和折射率的非接触式检测方法。
原理：
样品与已知折射率的基底之间存在反射和透射，形成干涉。通
正向互导纳检测（Forward Scattering Interferometry）是一种用于表征光学薄膜厚度和折射率的非接触式检测方法。
原理：
- 样品与已知折射率的基底之间存在反射和透射，形成干涉。
- 通过测量干涉强度和干涉像的空间分布，计算并分析出样品的厚度和折射率。
应用：
- 光学薄膜的厚度测量
- 光学薄膜的折射率测量
- 光栅结构的检测
- 薄膜生长过程的实时监测
- 涂层的均匀性检测
