检测项目

形态学表征：

• 晶粒形貌分析：长径比偏差（±5%）、表面粗糙度（Ra≤10nm）
• 粒度分布统计：D50粒径（参照ISO13322-1）、粒径离散系数（CV≤15%）

晶体结构解析：

• 晶格参数测定：d值精度（±0.002Å，参照JCPDS卡片）
• 位错密度计算：单位面积缺陷数量（个/μm²）

成分分析：

• EDS元素面分布：元素检出限（0.1at%）
• 电子能量损失谱：能量分辨率（≤0.7eV）

界面特征检测：

• 晶界厚度测量：界面过渡区宽度（≤2nm）
• 相界面夹角：取向差测量精度（±0.5°）

缺陷分析：

• 层错能计算：层错几率（%）
• 空位浓度测定：点缺陷密度（个/cm³）

纳米包裹体检测：

• 包裹体尺寸分布：直径范围（1-100nm）
• 包裹体成分鉴定：微量元素富集系数

电子衍射分析：

• 晶体取向标定：菊池带夹角偏差（±0.3°）
• 多晶衍射环分析：晶面指数匹配度

高分辨成像：

• 原子柱分辨率：点分辨率（≤0.12nm）
• 晶格条纹对比度：信噪比（SNR≥10:1）

表面能谱：

• 价态分析：化学位移精度（±0.2eV）
• 元素化学态映射：空间分辨率（≤1nm）

三维重构：

• 电子断层扫描：倾转角度精度（±0.1°）
• 体素分辨率：各向同性（≤1nm³）

检测范围

1.铁矿粉末：赤铁矿/磁铁矿纳米相变分析，重点检测氧化还原界面反应层厚度

2.稀土矿物粉体：独居石/氟碳铈矿晶格畸变检测，侧重晶胞参数异常变化

3.铜矿粉末：黄铜矿斑铜矿共生结构解析，聚焦纳米级元素互扩散行为

4.铝土矿微粉：三水铝石相含量测定，检测勃姆石转化过程中晶格应变

5.钛精矿粉：金红石锐钛矿混相鉴别，定量板钛矿包裹体分布密度

6.锌矿粉末：闪锌矿铁闪锌矿固溶体分析，检测晶格替代位点分布

7.镍钴氢氧化物前驱体：β-Ni(OH)₂层状结构表征，检测阳离子空位有序度

8.钨钼矿粉：黑钨矿白钨矿界面能测量，分析解理面位错网络构型

9.锂辉石粉末：α-β相转变监测，量化晶界迁移速率（nm/s）

10.铀矿微粉：晶质铀矿辐射损伤评估，测量非晶化区域占比

检测方法

国际标准：

• ISO21363:2020纳米颗粒尺寸分布透射电镜测定法
• ASTME2809-22材料位错密度测量的标准实施规程
• ISO16700:2016微束分析-扫描电镜-图像放大校准

国家标准：

• GB/T36065-2018纳米材料表征透射电子显微镜方法
• GB/T34168-2017金/银纳米颗粒材料成分分析标准
• GB/T23413-2009纳米尺度长度测量方法通则

方法差异说明：ISO21363规定200颗粒最小统计量标准，GB/T36065要求300颗粒基础量；ASTME2809采用线积分法计算位错密度，而GB/T34168推荐面积统计法

检测设备

1.场发射透射电镜：JEOLJEM-ARM300F（球差校正器，信息分辨率0.08nm）

2.能谱仪：OxfordX-MaxN150TLE（SDD探测器面积150mm²）

3.电子能量损失谱仪：GatanQuantum966（能量分辨率0.25eV）

4.高角环形暗场探测器：FischioneModel3000（采集角度70-210mrad）

5.原位拉伸台：HysitronPI95（载荷分辨率0.5nN）

6.低温样品杆：Gatan636（工作温度85K）

7.电子断层扫描系统：FEIXplore3D（倾转范围±80°）

8.聚焦离子束制样仪：ThermoFisherScios2（束流范围1pA-65nA）

9.超薄切片机：LeicaEMUC7（切割厚度5nm）

10.等离子清洗机：Fischione1020（功率0-100W可调）

11.离子减薄仪：GatanPIPSII（加速电压0.1-8kV）

12.数字显微成像系统：TVIPSTemCam-F416（16bit动态范围）

13.电子衍射相机：OlympusQuemesa（11M像素CCD）

14.环境样品杆：HummingbirdScientific（气压范围0-1atm）

15.原位加热台：ProtochipsAduro（最高温度1200℃）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。