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窄射线束检测方法

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文章概述:窄射线束检测是一种用于检测物体内部缺陷的无损检测方法。下面是窄射线束检测的几种常用方法:
1. X射线检测:通过使用X射线照射物体,利用物体对X射线的吸收特性来检测物体的内

窄射线束检测是一种用于检测物体内部缺陷的无损检测方法。下面是窄射线束检测的几种常用方法:

1. X射线检测:通过使用X射线照射物体,利用物体对X射线的吸收特性来检测物体的内部缺陷。

2. γ射线检测:类似于X射线检测,但使用的是γ射线,适用于检测高密度物体的内部缺陷。

3. 伽马射线检测:通过使用伽马射线照射物体,利用不同材料对伽马射线的吸收特性来检测物体内部缺陷。

4. 中子射线检测:使用中子射线照射物体,利用物体对中子射线的吸收和散射特性来检测物体内部缺陷。

5. 高能粒子检测:使用高能粒子(如质子、中子等)照射物体,通过观察粒子在物体内部的散射情况来检测物体的内部缺陷。

6. 超声波检测:利用超声波的传播特性,通过在物体表面或内部产生和接收超声波来检测物体内部的缺陷。

7. 涡流检测:通过在物体表面施加交变电磁场,观察涡流产生的情况来检测物体的内部缺陷。

8. 磁力检测:通过在物体表面施加磁场,观察磁场的分布和变化来检测物体内部缺陷。

窄射线束检测方法
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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