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长半衰期物质检测方法

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文章概述:1. 放射性测量法:使用放射性探针或辐射计仪器对待测物进行辐射测量,根据测量结果判断物质的半衰期。
2. 放射性计数法:将待测物质与放射性探针接触,通过记录放射性衰变事件的数

1. 放射性测量法:使用放射性探针或辐射计仪器对待测物进行辐射测量,根据测量结果判断物质的半衰期。

2. 放射性计数法:将待测物质与放射性探针接触,通过记录放射性衰变事件的数量来计算物质的半衰期。

3. 质谱法:通过质谱仪对待测物质进行分析,根据样品中放射性同位素的质谱信息判断半衰期。

4. 闪烁计数法:使用闪烁探测器对待测物质进行测量,根据闪烁事件的数量和时间来计算半衰期。

5. 重离子轨迹法:利用带电粒子的轨迹来测量待测物质的核衰变性质,从而推断出物质的半衰期。

长半衰期物质检测方法
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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