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正位错检测方法

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文章概述:正位错检测是一种常用的金相检测方法,用于分析材料晶体结构中的位置错位情况。以下是一些常见的正位错检测方法:
1. 布拉格反射法:通过X射线衍射技术,测量样品中的晶面间距和倾

正位错检测是一种常用的金相检测方法,用于分析材料晶体结构中的位置错位情况。以下是一些常见的正位错检测方法:

1. 布拉格反射法:通过X射线衍射技术,测量样品中的晶面间距和倾斜角度,从而确定晶体中的正位错情况。

2. TEM观察法:利用透射电子显微镜(TEM)观察样品中的晶体结构,通过观察晶格畸变、晶面错配等现象,确定正位错的存在。

3. Kossel扩散法:利用X射线或电子束照射样品,通过观察绕射斑图案的形状和位置变化,判断样品中的正位错情况。

4. 透射电子衍射法:使用透射电子衍射仪观察样品中的晶体结构,通过分析衍射斑的形态和强度,确定正位错的位置和类型。

5. X射线顶角方法:利用X射线穿透样品,通过测量X射线的顶角大小和位置,来确定样品中的正位错情况。

正位错检测方法
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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