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枝状生长晶体检测仪器

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文章概述:枝状生长晶体的检测可以使用以下仪器:
1. 光学显微镜:用于观察晶体的外观形态和结构特征。
2. X射线衍射仪:用于确定晶体的晶型和晶体结构。
3. 扫描电子显微镜(SEM):用于观察晶

枝状生长晶体的检测可以使用以下仪器:

1. 光学显微镜:用于观察晶体的外观形态和结构特征。

2. X射线衍射仪:用于确定晶体的晶型和晶体结构。

3. 扫描电子显微镜(SEM):用于观察晶体的表面形貌和微观结构特征。

4. 能谱仪/能量色散X射线光谱仪(EDX):用于分析晶体的元素组成和元素分布。

5. 热重分析仪(TGA):用于测定晶体的热稳定性和热分解特性。

6. 差示扫描量热计(DSC):用于研究晶体的热力学性质,如熔点、热容等。

7. 红外光谱仪(FTIR):用于分析晶体的化学结构和功能基团。

枝状生长晶体检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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