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圆片颗粒检测仪器

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文章概述:1. 光学显微镜:用于观察圆片颗粒的大小、形状和分布情况。通过调节显微镜的放大倍数和对焦,可以获得高清晰度的显微图像。
2. 雷射粒度仪:通过激光束照射样品,利用散射光的强度

1. 光学显微镜:用于观察圆片颗粒的大小、形状和分布情况。通过调节显微镜的放大倍数和对焦,可以获得高清晰度的显微图像。

2. 雷射粒度仪:通过激光束照射样品,利用散射光的强度和角度来获取颗粒的大小分布。可以获取颗粒的平均粒径、粒径分布、粒径累积曲线等相关参数。

3. 图像分析仪:将圆片颗粒放置在仪器的扫描台上,通过高分辨率相机拍摄圆片颗粒的图像,并进行分析和测量。可以获取颗粒的面积、周长、形状系数等参数。

4. 扫描电子显微镜(SEM):通过扫描电子束照射样品,利用样品表面散射电子的信号来获得高分辨率的图像。可以观察圆片颗粒的形貌和表面特征。

圆片颗粒检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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