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真空状态检测方法

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文章概述:真空状态检测是一种用于测试和验证封装器件或设备中的真空度的方法。下面是常见的真空状态检测方法:
1. 压力传感器:使用压力传感器来测量封装器件或设备中的真空度。这种方法

真空状态检测是一种用于测试和验证封装器件或设备中的真空度的方法。下面是常见的真空状态检测方法:

1. 压力传感器:使用压力传感器来测量封装器件或设备中的真空度。这种方法通过读取传感器所测量的压力值来判断真空状态。

2. 气体质谱仪:气体质谱仪可以分析封装器件或设备中的气体组成,从而得出真空状态的信息。通过检测样品气体中的特定分子或离子,确定真空度。

3. 压差计:压差计用于测量两个位置之间的压力差异。通过将压差计放置在真空系统中的不同位置,可以得出真空状态的信息。

4. 渗透率测试:渗透率测试是通过将不同压力下的气体引入或排出封装器件或设备,来测量气体渗透率,从而判断真空状态。

5. 低温法:在低温条件下,通过观察材料的蒸发速率或冷凝现象来判断真空状态。这种方法常用于超高真空环境中。

6. 漏率测试:漏率测试是通过检测封装器件或设备中的泄漏来判断真空状态。可以使用氦气检漏仪或负压测漏仪进行漏率测试。

真空状态检测方法
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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