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谱特性测试检测

检测项目

1.波长范围测试:覆盖200-2500nm波段精度验证(0.3nm)

2.吸光度线性度:0.1-3.0Abs范围内偏差值≤0.5%

3.光谱分辨率:紫外区0.1nm@Hg253.65nm

4.杂散光水平:220nm处≤0.0005%T

5.基线平直度:全波段波动≤0.001Abs

检测范围

1.金属材料:铝合金表面氧化膜厚度(50-500nm)

2.高分子材料:PET薄膜紫外阻隔率(280-400nm)

3.半导体器件:GaN外延层缺陷密度(PL光谱分析)

4.光学镀膜:AR涂层反射率(400-700nm)

5.生物医药:蛋白质溶液浓度(280nm吸光度法)

检测方法

ASTME275-08紫外-可见光谱仪器性能验证规程

ISO11346:2014橡胶老化试验光谱分析法

GB/T2679.11-2008纸和纸板荧光物质测定

ASTMF2381-10塑料紫外吸收特性测试

GB/T17683.1-1999太阳辐射光谱测量方法

检测设备

1.PerkinElmerLambda950:双光束分光光度计(190-3300nm)

2.AgilentCary630FTIR:傅里叶变换红外光谱仪(4500-600cm⁻)

3.HoribaLabRAMHREvolution:共聚焦拉曼光谱仪(532/633/785nm激光源)

4.ShimadzuUV-2600i:紫外可见分光光度计(185-900nm)

5.BrukerVERTEX80v:真空型红外光谱仪(远红外至可见光区)

6.OceanInsightSTS-NIR:微型近红外光谱仪(650-1100nm)

7.HitachiF-7100:荧光分光光度计(200-900nm激发波长)

8.ThermoScientificiCAPRQICP-MS:电感耦合等离子体质谱联用系统

9.JASCOV-770:超微量紫外可见分光光度计(5μL样品量)

10.MalvernPanalyticalEmpyrean:X射线衍射光谱仪(5-902θ角范围)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

谱特性测试检测
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。