检测项目
介电常数（εr）：测量频率范围1kHz-1GHz，精度0.5%体积电阻率（ρv）：测试电压DC100V-1kV，分辨率0.1GΩm介质损耗角正切（tanδ）：频率点50Hz-10MHz，误差≤2%击穿场强（Eb）：升压速率0.5kV/s-3kV/s，最大量程100kV/mm表面电荷衰减率：环境温控251℃，湿度505%RH
检测范围
高压绝缘材料：环氧树脂复合套管、硅橡胶绝缘子半导体器件：IGBT模块封装材料、晶圆钝化层功能高分子材料：PVDF压电薄膜、导电聚合物涂层储能介质材料：超级电容器电极片、锂电隔膜电磁屏蔽材料：金属化纤维织物、纳米碳管复合材料
检测方法
ASTMD150-18介电常数与损耗因数平行板法IEC60250:1969射频段介质特性测量规范GB/T1410-2006固体绝缘材料体积电阻率试验方法ISO1853:2018导电橡胶电阻率四探针法GB/T1693-2007硫化橡胶工频击穿电压测定
检测设备
KeysightE4990A阻抗分析仪：10Hz-120MHz宽频介电谱测量HIOKIIM3536LCR测试仪：4端对接口支持高阻测量Trek610E高压放大器：DC-20kHz输出20kV高压Agilent4294A精密阻抗分析仪：40Hz-110MHz自动扫描Keithley6517B静电计：10-17A电流分辨率HaefelyHipotronicsCT8000耐压测试系统：AC/DC双模式击穿试验ESPECSH-642恒温恒湿箱：温度范围-70℃~150℃Electro-TechSystems152A表面电阻测试仪：符合ASTMD257标准
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
