内容页头部

绕组线检测

检测项目

绝缘电阻:测量范围100MΩ至1000GΩ,依据IEC 60851-5标准

耐压强度:测试电压500V至5000V AC/DC,持续时间1分钟,依据GB/T 4074.3

导体直流电阻:测量精度±0.1%,量程0.1μΩ至10Ω,依据IEC 60228

伸长率:最小要求15%,测试速度50mm/min,依据ISO 6892-1

回弹性:弯曲角度180°,恢复率>95%,循环次数100次,依据ASTM D2519

热冲击性能:温度循环-40°C至155°C,循环次数10次,无开裂,依据IEC 60851-8

耐刮擦性:刮擦力5N至20N,针头半径0.5mm,绝缘无损伤,依据GB/T 2951.31

耐溶剂性:浸泡在甲苯或乙醇中24小时,重量变化≤1%,依据ISO 1817

尺寸测量:直径公差±0.01mm,长度精度±0.1mm,依据GB/T 6109.1

粘结强度:剥离力最小10N/cm,测试速度50mm/min,依据IEC 60851-6

表面光洁度:Ra值≤0.8μm,测量长度4mm,依据ISO 4287

热老化性能:155°C下168小时,电阻变化≤10%,依据IEC 60216

绝缘厚度均匀性:偏差≤5%,扫描分辨率0.001mm,依据GB/T 4074.2

击穿电压:最小击穿值2kV/mm,上升速率500V/s,依据ASTM D149

柔韧性:弯曲半径0.5mm,循环弯曲100次无断裂,依据IEC 60851-7

检测范围

漆包铜线:聚酯或聚氨酯绝缘,用于电机和变压器绕组

纸包铝线:电缆纸绝缘,适用于中高压变压器

薄膜绝缘线:聚酰亚胺或聚酯薄膜,高温环境应用

玻璃丝包线:玻璃纤维增强,耐温等级180°C以上

云母带绝缘线:云母复合绝缘,高压设备专用

绕包线:棉纱或丝绸包覆,低频电磁器件

自粘线:热粘合层设计,简化绕组工艺

扁线:矩形截面导线,高效空间利用

绞合线:多股细导体绞合,提升柔韧性

特种合金线:镍铬或铜合金,耐腐蚀应用

复合绝缘线:多层绝缘结构,增强防护性能

超导线:铌钛或YBCO材料,低温超导系统

高频绕组线:低损耗设计,射频和通信设备

环保型绕组线:无卤素绝缘材料,符合RoHS指令

高温绕组线:硅树脂或陶瓷绝缘,工作温度>200°C

检测方法

绝缘电阻测试:依据IEC 60851-5,使用直流电压500V测量

耐压测试方法:依据GB/T 4074.3,应用交流或直流高压评估

导体电阻测量:依据IEC 60228,采用四端法确保精度

机械性能测试:依据ISO 6892-1,执行拉伸试验测伸长率

热冲击测试方法:依据IEC 60851-8,实施温度循环程序

耐刮擦测试:依据GB/T 2951.31,使用针划法评估表面耐久

耐溶剂测试方法:依据ISO 1817,通过浸泡法观察变化

尺寸测量技术:依据GB/T 6109.1,应用千分尺或激光扫描

粘结强度测试:依据IEC 60851-6,进行剥离试验测定

热老化测试方法:依据IEC 60216,暴露于高温环境监测性能

表面粗糙度测量:依据ISO 4287,使用轮廓仪分析Ra值

回弹性测试:依据ASTM D2519,弯曲恢复试验评估弹性

击穿电压测试:依据ASTM D149,逐步升压至绝缘失效

柔韧性评估:依据IEC 60851-7,反复弯曲检查断裂点

绝缘厚度测量:依据GB/T 4074.2,显微镜或超声波扫描

检测设备

InsulationResistanceTester Model IRT-500:量程1MΩ至10TΩ,精度±2%,用于绝缘电阻测量

HighVoltageTester Model HVT-1000:最大输出10kV AC/DC,支持耐压和击穿测试

MicroOhmMeter Model MOM-200:测量范围0.1μΩ至2kΩ,四端法测导体电阻

UniversalTestingMachine Model UTM-50:最大负载50kN,执行拉伸、弯曲和伸长率测试

ThermalShockChamber Model TSC-300:温度范围-70°C至300°C,用于热冲击和老化试验

ScratchTester Model ST-10:刮擦力0.1N至50N,可调速度,评估耐刮擦性

SolventResistanceTester Model SRT-24:恒温槽控制,浸泡法测耐溶剂性能

DigitalMicrometer Model DM-100:分辨率0.001mm,量程0-25mm,精确尺寸测量

PeelStrengthTester Model PST-5:最大剥离力50N,速度可调,测定粘结强度

SurfaceRoughnessAnalyzer Model SRA-200:Ra测量范围0.01-100μm,轮廓分析表面光洁度

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

绕组线检测
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。